[实用新型]一种工件形貌的测量系统有效

专利信息
申请号: 201720116362.6 申请日: 2017-02-08
公开(公告)号: CN206479145U 公开(公告)日: 2017-09-08
发明(设计)人: 邹如飞;王喆 申请(专利权)人: 邹如飞;王喆
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01S17/48
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100029 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 工件 形貌 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种工件形貌的测量系统,其特征在于,包括:基座,数据处理装置,以及至少一个激光测距仪;

基座上设置有置物台,置物台用于放置待测工件;激光测距仪与数据处理装置电连接;

激光测距仪能够对置物台上的待测工件的表面进行扫描,测量待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据并发送至数据处理装置;

数据处理装置对所述待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据进行处理,重构出待测工件的表面形貌。

2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,基座上还设置有至少一个运动平台;

每个运动平台包括旋转台和平移台;

每个激光测距仪安装于一个运动平台上,运动平台的转动和/或平动能够带动激光测距仪转动和/或平动;

测量状态下,激光测距仪通过运动平台的转动和/或平动对置物台上的待测工件进行扫描。

3.如权利要求2所述的系统,其特征在于,当该系统包括多个激光测距仪时,

多个激光测距仪分别安装在不同的运动平台上,不同运动平台相互独立;

测量状态下,各激光测距仪能够通过各运动平台的转动和/或平动对置物台上的待测工件的不同表面同时进行扫描。

4.如权利要求2所述的系统,其特征在于,该系统进一步包括:图像传感器和图像处理器;

图像传感器与图像处理器电连接;图像处理器与激光测距仪所在的运动平台电连接;

测量状态下,图像传感器能够在激光测距仪对待测工件的表面进行扫描之前,对待测工件的表面进行成像探测,得到待测工件的表面的二维图像并发送至图像处理器;

图像处理器对所述待测工件的表面的二维图像进行处理,得到待测工件的表面对应的扫描逻辑并发送至激光测距仪所在的运动平台;

运动平台根据接收到的扫描逻辑进行转动和/或平动。

5.如权利要求4所述的系统,其特征在于,图像传感器安装于基座本体上,或者,图像传感器安装于基座上的运动平台上;

当图像传感器安装于基座本体上时,置物台包括旋转台和平移台,能够相对于图像传感器转动和/或平动;

当图像传感器安装于基座上的运动平台上时,运动平台的转动和/或平动能够带动图像传感器转动和/或平动。

6.如权利要求1所述的系统,其特征在于,基座上还设置有至少一个运动平台;每个运动平台包括平移台;

置物台包括旋转台和平移台;置物台的转动和/或平动能够带动放置于置物台上的待测工件转动和/或平动;

每个激光测距仪安装于一个运动平台上,运动平台的平动能够带动激光测距仪平动;

测量状态下,通过激光测距仪所在的运动平台的平动,和/或,置物台的转动和/或平动,激光测距仪能够对待测工件进行扫描。

7.如权利要求6所述的系统,其特征在于,该系统进一步包括:图像传感器和图像处理器;

图像传感器安装于基座本体上;图像传感器与图像处理器电连接;图像处理器分别与激光测距仪所在的运动平台以及置物台电连接;

测量状态下,图像传感器能够在激光测距仪对待测工件的表面进行扫描之前,对待测工件的表面进行成像探测,得到待测工件的表面的二维图像并发送至图像处理器;

图像处理器对所述待测工件的表面的二维图像进行处理,得到待测工件的表面对应的扫描逻辑并发送至激光测距仪所在的运动平台以及置物台,使得运动平台和置物台按照所述扫描逻辑进行相对运动。

8.如权利要求5或7所述的系统,其特征在于,待测工件为电连接器,待测工件的表面为电连接器的连接端面;

图像传感器能够对电连接器的表面进行成像探测,得到电连接器的连接端面的二维图像并发送至图像处理器

图像处理器对电连接器的连接端面的二维图像进行处理,确定该连接端面的外围区域的扫描范围和/或扫描精度、以及该连接端面中的针脚或针孔区域的扫描范围和/或扫描精度。

9.如权利要求1所述的系统,其特征在于,每个激光测距仪包括:激光器、图像信号传感器和图像信号处理器;

激光器能够输出激光;

图像信号传感器能够接收激光器输出的激光的反射光,形成相应的图像信号;

图像信号处理器能够对图像传感器输出的图像信号进行处理,获得激光输出平面与激光反射位置之间的距离。

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