[发明专利]一种变压器变比测试与直阻测试接线方法及接线盒在审
| 申请号: | 201711426407.0 | 申请日: | 2017-12-26 |
| 公开(公告)号: | CN107831345A | 公开(公告)日: | 2018-03-23 |
| 发明(设计)人: | 李朋;董洪泽;李文憬;周晨光 | 申请(专利权)人: | 国网冀北电力有限公司唐山供电公司;国家电网公司 |
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R29/20;G01R27/02 |
| 代理公司: | 唐山顺诚专利事务所(普通合伙)13106 | 代理人: | 于文顺,晏春红 |
| 地址: | 063000 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 变压器 测试 接线 方法 | ||
1.一种变压器变比测试与直阻测试接线盒,其特征在于:包含接线盒(1)、直阻测试仪接线柱(2)、变比测试仪接线柱(3)、变比测试开关(4)、直阻测试开关(5)、低压侧旋转开关(6)、高压侧旋转开关(7)和变压器绕组接线柱(8),所述直阻测试仪接线柱(2)、变比测试仪接线柱(3)、变比测试开关(4)、直阻测试开关(5)、低压侧旋转开关(6)、高压侧旋转开关(7)设置在接线盒(1)的前侧,直阻测试开关(5)的一端与直阻测试仪接线柱(2)互相连接,另一端分别与低压侧旋转开关(6)、高压侧旋转开关(7)互相连接,低压侧旋转开关(6)、高压侧旋转开关(7)分别与位于接线盒(1)后侧的变压器绕组接线柱(8)互相连接,变比测试开关(4)的一端与变比测试仪接线柱(3)互相连接,另一端与变压器绕组接线柱(8)互相连接。
2.根据权利要求1所述的一种变压器变比测试与直阻测试接线盒,其特征在于:所述直阻测试仪接线柱(2)包含M接线柱和N接线柱。
3.根据权利要求1所述的一种变压器变比测试与直阻测试接线盒,其特征在于:所述变比测试仪接线柱(3)包含A1接线柱、B1接线柱、C1接线柱、a1接线柱、b1接线柱和c1接线柱。
4.根据权利要求1所述的一种变压器变比测试与直阻测试接线盒,其特征在于:所述变压器绕组接线柱(8)包含A2接线柱、B2接线柱、C2接线柱、a2接线柱、b2接线柱和c2接线柱,低压侧旋转开关(6)分别与a2接线柱、b2接线柱、c2接线柱互相连接,高压侧旋转开关(7)分别与A2接线柱、B2接线柱、C2接线柱互相连接。
5.一种变压器变比测试与直阻测试接线方法,其特征在于采用权利要求1-4任意一项接线盒进行,包含如下步骤:变压器试验前,接线盒的前侧为进线侧,直阻测试仪接线柱中的M接线柱和N接线柱,匹配连接变压器直流电阻测试仪对应的接线柱,变比测试仪接线柱中的A1接线柱、B1接线柱、C1接线柱、a1接线柱、b1接线柱、c1接线柱,匹配连接变压器变比测试仪对应的接线柱;接线盒的后侧为出线侧,变压器绕组接线柱中的A2接线柱、B2接线柱、C2接线柱,分别匹配连接变压器高压侧的A相绕组、B相绕组、C相绕组, a2接线柱、b2接线柱、c2接线柱,分别匹配连接变压器低压侧的a相绕组、b相绕组、c相绕组; O接线柱连接变压器的中性点;若要测试变压器变比数据,闭合变比测试开关,变比测试仪完成对变压器变比测试仪的测试若要测试变压器高压侧A相绕组和B相绕组之间的直流电阻,闭合直阻测试开关,并通过高压侧旋转开关选择接通A、B档,分别与A相绕组和B相绕组连通,进行A相绕组和B相绕组之间的直流电阻测试,其它高压绕组相间直流电阻,通过改变高压侧旋转开关的接通挡位测得;若要测试变压器低压侧a相绕组和b相绕组之间的直流电阻,闭合直阻测试开关,并通过低压侧旋转开关选择接通a、b档,分别与a相绕组和b相绕组连通,进行a相绕组和b相绕组之间的直流电阻测试,其它低压绕组相间直流电阻,通过改变低压侧旋转开关的接通挡位测得;若要测试变压器低压侧a相绕组和中性点之间的直流电阻,闭合直阻测试开关,并通过低压侧旋转开关选择o、a档,分别与中性点o和a相绕组连通,进行a相绕组和中性点之间的直流电阻测试,其它低压绕组与中性点o之间的直流电阻,通过改变低压侧旋转开关挡位测得。
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