[发明专利]谷氨酸受体的质谱探针及其在脑组织中的空间分布规律检测方法

权利要求书

1.谷氨酸受体质谱探针在脑组织质谱成像中的应用，其特征在于，所述质谱探针由两部分组成，一部分为谷氨酸、N-甲基-天冬氨酸、叔丁基保护的谷氨酸、或叔丁基保护的N-甲基-天冬氨酸，另一部分为芴甲氧羰酰基团，所述质谱探针的分子结构式如下式所示：

2.根据权利要求1所述谷氨酸受体质谱探针在脑组织质谱成像中的应用，其特征在于，所述质谱探针俘获光生电子后引发特异性化学健断裂，均产生相同的碎片离子m/z165.0702Da。

3.权利要求1～2任一所述谷氨酸受体质谱探针在脑组织中的空间分布规律检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)将纳米半导体材料制成图像采集薄膜；

2)将质谱探针配成溶液注射至脑组织中，一段时间后取出脑组织制作成组织切片，随后将组织切片贴附于步骤1)制备的图像采集薄膜上，并将图像采集薄膜固定于样品靶；

3)利用脂肪酸混合物校正质谱仪负离子模式的低质量区质量；

4)将样品靶放入样品仓，调节激光参数和静电场大小，设定质量分析器的扫描范围，利用激光束扫描贴附有组织切片的图像采集薄膜表面，由飞行时间质量分析器测定质荷比，由检测器测定信号强度，通过图像重构获得质谱探针在脑组织中的空间分布成像。

4.根据权利要求3所述谷氨酸受体质谱探针在脑组织中的空间分布规律检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括：步骤5)通过检测器检测每一种质谱探针的信号强度，根据信号强度大小对不同质谱探针分子在组织切片中的空间分布进行定量比较。

5.根据权利要求3所述谷氨酸受体质谱探针在脑组织中的空间分布规律检测方法，其特征在于，所述纳米半导体材料为(Bi₂O₃)_0.07(CoO)_0.03(ZnO)_0.9、AlN、SiO₂、SiC、ZnS、Bi₂Te₃、Bi₂Se₃、或Bi₂S₃。

6.根据权利要求3所述谷氨酸受体质谱探针在脑组织中的空间分布规律检测方法，其特征在于，所述激光参数的设定原则为：根据纳米半导体材料的性质和能隙大小，选择相应地激光波长，使纳米半导体材料的能隙小于激光光子能量。

7.根据权利要求3所述谷氨酸受体质谱探针在脑组织中的空间分布规律检测方法，其特征在于，所述静电场由样品靶电压、六级杆电压、离子提取电压和狭缝电压组成，根据纳米半导体材料的性质和质谱探针性质设定样品靶和狭缝电压差。

8.根据权利要求5所述谷氨酸受体质谱探针在脑组织中的空间分布规律检测方法，其特征在于，当使用(Bi₂O₃)_0.07(CoO)_0.03(ZnO)_0.9纳米半导体材料时，所使用的激光波长为355nm，样品靶电压为87伏特，狭缝电压为107伏特。

9.根据权利要求3所述谷氨酸受体质谱探针在脑组织中的空间分布规律检测方法，其特征在于，所述质谱为全扫描模式。