[发明专利]一种暗室球面阵紧缩场静区特征谱分析方法

权利要求书

1.一种暗室球面阵紧缩场静区特征谱分析方法，其特征在于：包括，

根据频段和紧缩场尺寸，设计馈源天线、反射面和球面阵模型；

将设计的模型导入电磁建模软件，提取出静区场采样点的电场分布；

根据静区场采样点的电场分布，计算静区场角谱分布；

使用FFT和IFFT计算静区场角谱分布，公式为，

其中，M和N分别为静区场在x和y方向采样点的数量，k_x为波数的x方向分量，k_y为波数的y方向分量，g为静区场电场分量，G为静区场角谱分量，FFT和IFFT为快速傅立叶变换和逆变换，p和q为二维FFT的元素序号，Δx、Δy为采样点在x和y方向上的间距，x₀、y₀是静区中心相对原点坐标；

k_x和k_y与角谱入射角的关系为，

k_x＝k₀sin(θ)cos(φ)

k_y＝k₀sin(θ)sin(φ)

其中，k₀为自由空间中的波数，θ、φ为球坐标系的角度分量；

根据静区场角谱分析绕射场分布。

2.根据权利要求1所述的一种暗室球面阵紧缩场静区特征谱分析方法，其特征在于：在CAD软件中根据频段和紧缩场尺寸，设计馈源天线、反射面和球面阵模型。

3.根据权利要求1所述的一种暗室球面阵紧缩场静区特征谱分析方法，其特征在于：将模型导入FEKO，设置激励类型，提取出静区场采样点的电场分布。

4.根据权利要求3所述的一种暗室球面阵紧缩场静区特征谱分析方法，其特征在于：设置的激励类型为波导激励，采样点间距小于1/3个工作波长。

5.根据权利要求3所述的一种暗室球面阵紧缩场静区特征谱分析方法，其特征在于：FEKO导出.out文件，从该文件中提取出静区场采样点的电场分布。