[发明专利]用于测量海蚀洞深度的测量装置与测量海蚀洞深度的方法

权利要求书

1.一种用于测量海蚀洞深度的测量装置，其特征在于，包括导轨、竖杆、激光测距仪，竖杆滑动设置在导轨上，沿导轨调节水平位置并定位，激光测距仪滑动设置在竖杆上，沿竖杆调节竖直位置并定位。

2.根据权利要求1所述的用于测量海蚀洞深度的测量装置，其特征在于，导轨包括支撑板、滑动槽，滑动槽设置在支撑板的顶面，竖杆滑动设置在滑动槽内。

3.根据权利要求2所述的用于测量海蚀洞深度的测量装置，其特征在于，支撑板的两侧沿长度方向设置有向下延伸的固定桩，用于固定导轨。

4.根据权利要求2所述的用于测量海蚀洞深度的测量装置，其特征在于，滑动槽的顶面沿长度方向开设有槽口，槽口的宽度小于滑动槽的宽度，滑动槽形成缩口槽，竖杆的底端为与滑动槽配合的扩径头，扩径头滑动设置在滑动槽内，竖杆的杆体与滑动槽垂直。

5.根据权利要求4所述的用于测量海蚀洞深度的测量装置，其特征在于，扩径头通过从滑动槽锁入的螺栓进行锁紧固定。

6.根据权利要求2所述的用于测量海蚀洞深度的测量装置，其特征在于，滑动槽的顶面设置有横向水准泡、纵向水准泡。

7.根据权利要求1所述的用于测量海蚀洞深度的测量装置，其特征在于，激光测距仪通过夹座夹装在竖杆上，夹座的一端夹持激光测距仪，另一端滑动定位于竖杆上。

8.根据权利要求2或7所述的用于测量海蚀洞深度的测量装置，其特征在于，滑动槽的侧壁、竖杆上设置有刻度。

9.一种测量海蚀洞深度的方法，其特征在于，使用权利要求1至8任一项所述的测量装置进行测量，步骤如下：

1)搭建不小于海蚀洞宽度的导轨；

2)将竖杆调节至导轨的一端，激光测距仪调节至竖杆的最顶端；

3)以预设的距离向下调节激光测距仪的高度，逐次测量每个高度的深度值，直至激动测距仪调节至竖杆最底位置，复位激光测距仪调节至竖杆的最顶端；

4)以预设的距离朝向导轨的另一端调节竖杆的位置，并执行步骤3)，直至竖杆调节至导轨的另一端；得到海蚀洞在每个测量位置的深度值。

10.根据权利要求9所述的测量海蚀洞深度的方法，其特征在于，海蚀沿的最大洞深为步骤4)中得到的最大深度值L_max与激光测距仪至海崖崖面的距离L₀的差值。