[发明专利]测量系统和测量方法有效
| 申请号: | 201711097070.3 | 申请日: | 2017-11-09 |
| 公开(公告)号: | CN107655858B | 公开(公告)日: | 2023-08-18 |
| 发明(设计)人: | 何俊;张哲;王义平;王英;廖常锐 | 申请(专利权)人: | 深圳大学 |
| 主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45;G01N21/01 |
| 代理公司: | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 王利彬 |
| 地址: | 518060 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测量 系统 测量方法 | ||
1.一种测量系统,用于测量光学固化胶的弹光系数,其特征在于,所述测量系统包括:光信号传输单元、处理单元和压应力发生单元;
所述光信号传输单元包括:光信号单元和传导光纤,所述光信号单元通过传导光纤与所述光学固化胶连接,所述处理单元与所述光信号单元连接,所述压应力发生单元与所述处理单元连接;
所述处理单元,用于产生控制信号,将所述控制信号传输至所述压应力发生单元,所述控制信号用于控制所述压应力发生单元对所述光学固化胶施加预设的稳态压应力组;所述处理单元包括:光谱采集单元和运算控制单元;所述运算控制单元包括:运算单元和储存单元;
所述光信号单元,用于产生初始光信号,将所述初始光信号通过所述传导光纤传输至所述光学固化胶,并将所述光学固化胶在不同稳态压应力作用下反射的干涉光信号传输至所述处理单元;
所述处理单元,还用于处理由所述光信号单元获得的干涉光信号,以得到所述光学固化胶在不同稳态压应力作用下的弹光系数,具体包括:
所述光谱采集单元对所述干涉光信号进行处理,得到所述运算单元可以处理的干涉光谱,并将所述干涉光谱传输至所述储存单元;
所述储存单元将所述光谱采集单元传输的所述干涉光谱,传输至所述运算单元;
所述运算单元对所述储存单元传输的所述干涉光谱进行寻峰扫描,得到在每个稳态压应力下预设极小值处的波长,并将所述预设极小值处的波长传输给所述储存单元;
所述储存单元还储存有系数数据,该系数数据包括:所述稳态压应力组的大小变化范围、变化步长和保持恒压的时间以及所述光学固化胶的弹性模量、泊松比、原始厚度和原始折射率,还储存有计算弹光系数的递推公式,所述储存单元将所述系数数据、所述递推公式和由所述运算单元获得的所述预设极小值处的波长传输给运算单元;
所述运算单元根据所述储存单元传输的所述系数数据和所述预设极小值处的波长,并根据所述储存单元传输的所述递推公式:
(1)
得到每个稳态压应力下,所述光学固化胶的弹光系数,并将所述弹光系数传输给所述储存单元;
式(1)中为在大小为的所述稳态压应力的作用下所述光学固化胶的弹光系数,m为正整数,为所述稳态压应力组中第N个稳态压应力的大小,为所述稳态压应力组中第N-1个稳态压应力的大小,为在大小为的所述稳态压应力的作用下所述预设极小值处的波长,为在大小为的所述稳态压应力的作用下所述预设极小值处的波长的变化量,为在大小为的所述稳态压应力的作用下所述光学固化胶的厚度,为在大小为的所述稳态压应力的作用下所述光学固化胶的厚度的变化量,为在大小为的所述稳态压应力的作用下所述光学固化胶的折射率,为所述变化步长,应使预设极小值处的波长的变化量的最小值大于该光谱采集单元的采样波长间隔的两倍;
所述和根据所述光学固化胶的原始厚度和弹性模量计算得到;
所述根据所述递推公式(1)和初始条件:所述光学固化胶的原始折射率n递推得到。
2.如权利要求1所述的测量系统,其特征在于,所述光信号单元包括:
光源单元和光纤耦合器;
所述光纤耦合器包括:第一接口、第二接口和第三接口;
所述光源单元通过所述第一接口与所述光纤耦合器连接;
所述光纤耦合器通过所述第二接口与所述传导光纤的一端连接;
所述光学固化胶固化在所述传导光纤的另一端;
所述处理单元通过所述第三接口与所述光纤耦合器连接;
所述光源单元,用于产生初始光信号并通过所述第一接口将所述初始光信号传递至所述光纤耦合器;
所述光纤耦合器,用于将由所述第一接口获得的初始光信号,通过所述第二接口传递至传导光纤;
所述传导光纤,用于将由所述第二接口获得的初始光信号传输至所述光学固化胶,并将所述光学固化胶在不同稳态压应力作用下反射的干涉光信号通过所述第二接口传输至所述光纤耦合器;
所述光纤耦合器,还用于将由所述第二接口获得的干涉光信号,通过所述第三接口传输至所述处理单元。
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