[发明专利]一种TDD和FDDLTERRU的通用驻波比检测方法在审

专利信息
申请号: 201711092665.X 申请日: 2017-11-08
公开(公告)号: CN107809291A 公开(公告)日: 2018-03-16
发明(设计)人: 向奇;徐宁;何涛勇 申请(专利权)人: 武汉邮电科学研究院
主分类号: H04B17/10 分类号: H04B17/10;H04W24/08
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)42222 代理人: 薛玲
地址: 430074 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 tdd fddlterru 通用 驻波 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种TDD和FDD LTE RRU的通用驻波比检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1,获取下行信号与前反向链路信号的时延Tdl

步骤2,获取LTE无线帧的循环前缀的配置信息,根据循环前缀的配置信息获得PBCH信号时长TPB

步骤3,CPU经过FPGA下发信号将反馈链路的开关切换为前向;

步骤4,FPGA以帧头为基准延时Tdl+T1+T2,获取前向信号,数据采集时长为T3;

其中,T1为PBCH信号相对于帧头延时,T2为采集偏移时间;

步骤5,FPGA通过信号中心频点的1.08M带宽数字滤波器将PBCH信号截取出来,读取并转换得到前向功率值PFW

步骤6,CPU经过FPGA下发信号将反馈链路的开关切换为反向;

步骤7,以步骤4中的帧头信号为基准延时Tdl+10ms+T1+T2,获取反向信号,数据采集时长为T3;

步骤8,同步骤5,读取并转换得到反向功率值PFB

步骤9,根据步骤5和步骤8获得的前向功率值和反向功率值,获取回波损耗值RL1,RL1=PFW-PFB

步骤10,根据回波损耗校准值ΔRL校准得到实际的回波损耗值RL,RL=RL1+ΔRL;

步骤11,根据步骤10所得实际的回波损耗值获取驻波比检测结果。

2.根据权利要求1所述的TDD和FDD LTE RRU的通用驻波比检测方法,其特征在于,步骤2中,所述循环前缀为常规CP或扩展CP,常规CP的PBCH信号时长TPB为285.43μs,扩展CP的PBCH信号时长TPB为333.36μs。

3.根据权利要求1所述的TDD和FDD LTE RRU的通用驻波比检测方法,步骤4和步骤7中,T2≥20μs,T3≤TPB-2×T2。

4.根据权利要求1所述的TDD和FDD LTE RRU的通用驻波比检测方法,步骤5和步骤8中,根据公式10×log10(power)进行转换,其中power为统计的前向功率或反向功率。

5.根据权利要求1所述的TDD和FDD LTE RRU的通用驻波比检测方法,其特征在于,步骤10中,所述回波损耗校准值ΔRL的获取方法为,预先使用网络分析仪测试实际端口的驻波比值,并换算为对应的回波损耗值RL2,计算ΔRL=RL2-RL1。

6.根据权利要求1所述的TDD和FDD LTE RRU的通用驻波比检测方法,其特征在于,步骤11中,根据步骤10所得实际的回波损耗值获取驻波比检测结果的实现方式为,根据RRU预先自建的回波损耗表或驻波比计算公式获得实际的驻波比值。

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