[发明专利]一种雷达扫描方法、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种雷达扫描方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取预设特定面，所述预设特定面包括多个扫描段；

计算各扫描段的方位参数和俯仰参数；

根据所述方位参数和俯仰参数计算各扫描段的具体控制参数；

根据各扫描段的具体控制参数生成系统控制指令，所述系统控制指令用于控制雷达对所述预设特定面进行扫描。

2.如权利要求1所述的雷达扫描方法，其特征在于：所述根据各扫描段的具体控制参数生成系统控制指令，具体包括以下步骤：

根据各扫描段的顺序对各扫描段的具体控制参数进行连接编排；

根据连接编排后的各扫描段的具体控制参数生成系统控制指令。

3.如权利要求1所述的雷达扫描方法，其特征在于：所述获取预设特定面，所述预设特定面包括多个扫描段，具体包括以下步骤：

获取三维空间绘图界面中的绘制特定面，所述绘制特定面与所述预设特定面相匹配；

提取所述预设特定面的关键参数；

根据所述关键参数将所述预设特定面分割为多个扫描段。

4.如权利要求3所述的雷达扫描方法，其特征在于：所述关键参数包括起始方位、俯仰角度、拐点方位、终点方位、扫描速度参数中的至少一种。

5.如权利要求1-4中任一项所述的雷达扫描方法，其特征在于：所述雷达扫描方法用于机械扫描雷达，所述根据所述方位参数和俯仰参数计算各扫描段的具体控制参数，具体为：所述根据所述方位参数、俯仰参数以及机械扫描雷达的天线伺服驱动器的控制参数计算各扫描段的天线参数。

6.如权利要求1-4中任一项所述的雷达扫描方法，其特征在于：所述雷达扫描方法用于电子扫描雷达，所述各扫描段的具体控制参数包括波束控制参数。

7.如权利要求1-4中任一项所述的雷达扫描方法，其特征在于：所述雷达扫描方法用于方位扫描是机械扫描且俯仰扫描是电子扫描的雷达，所述根据所述方位参数和俯仰参数计算各扫描段的具体控制参数，具体为：根据所述方位参数和天线伺服驱动器的控制参数计算各扫描段的天线驱动参数，以及根据所述俯仰参数计算各扫描段的波束控制参数。

8.如权利要求1-4中任一项所述的雷达扫描方法，其特征在于：所述雷达扫描方法用于方位扫描是电子扫描且俯仰扫描是机械扫描的雷达，所述根据所述方位参数和俯仰参数计算各扫描段的具体控制参数，具体为：根据所述方位参数计算各扫描段的波束控制参数，以及根据所述俯仰参数和天线伺服驱动器的控制参数计算各扫描段的天线驱动参数。

9.一种电子设备，其特征在于：包括存储器、处理器以及存储在存储器中的程序，所述程序被配置成由处理器执行，处理器执行所述程序时实现如权利要求1-8中任一项所述的雷达扫描方法的步骤。

10.一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，其特征在于：所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-8中任一项所述的雷达扫描方法的步骤。