[发明专利]PERC电池背面氮化硅多层膜的制备方法在审
| 申请号: | 201710970288.9 | 申请日: | 2017-10-16 |
| 公开(公告)号: | CN107731960A | 公开(公告)日: | 2018-02-23 |
| 发明(设计)人: | 朱露;孙铁囤;姚伟忠 | 申请(专利权)人: | 常州亿晶光电科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0203 |
| 代理公司: | 常州市英诺创信专利代理事务所(普通合伙)32258 | 代理人: | 朱丽莎 |
| 地址: | 213000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | perc 电池 背面 氮化 多层 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及太阳能电池制备技术领域,尤其涉及一种PERC电池背面氮化硅多层膜的制备方法。
背景技术
PERC技术,即钝化发射极背面接触,通过在太阳能电池背面形成钝化层,可大幅降低背表面电学复合速率,形成良好的内部光学背反射机制,提升电池的开路电压、短路电流,从而提升电池的转换效率。
PERC太阳能电池具有工艺简单,成本较低,且与现有电池生产线兼容性高的优点,是新开发出来的一种高效太阳能电池,得到了业界的广泛关注,有望成为未来高效太阳能电池的主流方向。
常规硅太阳能电池的生产,PERC硅太阳能电池生产步骤如下:1、提供一P 型硅基板,首先进行清洗;2、在P型硅基板上采用三氯氧化磷(POCl3)液态源扩散法来形成反向导电型的N型扩散层(N型发射极);3、在形成扩散层之后,用氢氟酸进行蚀刻,去除扩散产生的硅片截面边缘的PN结;4、在正面N型扩散层上淀积SiNx,形成介电层,在背面淀积AlOx/SiNx,形成钝化层;5、在 PERC硅太阳能电池背面上的钝化层进行激光开窗;6、在电池正面上的介电层上进行丝网印刷,并干燥正面银浆,形成正面电极,在P型基板背面穿孔的钝化层上进行丝网印刷,并干燥背面银浆,形成背面电极;7、共烧,使电极充分干燥,同时形成良好电接触。
目前,PERC技术上背面氮化硅目前主要采用单层膜技术,背面反射率正常只能做到35%左右。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:为了能够提高背面反射率,本发明提供一种 PERC电池背面氮化硅多层膜的制备方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种PERC电池背面氮化硅多层膜的制备方法,对电池硅片的背面依次进行制绒、扩散、洗磷、背钝化沉积、退火、电池背面镀氮化硅膜、电池正面镀氮化硅、激光和印刷烧结,电池背面镀氮化硅膜采用双层或多层氮化硅镀膜,且内层的折射率低于外层的折射率,n 值表示折射率。
进一步具体地,所述电池背面镀氮化硅膜采用双层氮化硅镀膜,第二层氮化硅膜的n值大于第一层氮化硅膜的n值。
所述电池背面镀氮化硅膜采用多层氮化硅镀膜,第一层氮化硅膜厚度为 50~100nm,n值为2.0~2.03,采用SiH4400~800sccm,NH36000~10000sccm,压力 1700mtorr,射频功率5000~9000瓦。
第二层氮化硅膜厚度为50~100nm,n值为2.20~2.30,采用SiH4 800~1200sccm,NH33000~6000sccm,压力1700mtorr,射频功率5000~9000瓦。
第三层氮化硅膜的n值大于第二层氮化硅膜的n值,依次类推。
本发明的有益效果是,本发明的PERC电池背面氮化硅多层膜的制备方法,采用背面氮化硅多层膜形式,增加背面光的反射率,有效提升了光的吸收,对短路电流有明显的增益,提高了电池片的效率。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明反射率曲线的对比示意图。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本发明的基本结构,因此其仅显示与本发明有关的构成。
如图1所示,是本发明实施例一,一种PERC电池背面氮化硅多层膜的制备方法,对电池硅片的背面依次进行制绒、扩散、洗磷、背钝化沉积、退火、电池背面镀氮化硅膜、电池正面镀氮化硅、激光和印刷烧结,电池背面镀氮化硅膜采用双层氮化硅镀膜,第二层氮化硅膜的n值大于第一层氮化硅膜的n值。
具体双层膜如下:
第一层氮化硅膜厚度为50~100nm,n值为2.0~2.03,采用SiH4400~800sccm (立方厘米/分钟),NH36000~10000sccm(立方厘米/分钟),压力1700mtorr(毫托),射频功率5000~9000瓦。
第二层氮化硅膜厚度为50~100nm,n值为2.20~2.30,采用SiH4 800~1200sccm,NH33000~6000sccm,压力1700mtorr(毫托),射频功率5000~9000 瓦。
本实施例与现有技术单层膜对比的技术效果
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





