[发明专利]闪烁体面板在审

专利信息
申请号: 201710752958.X 申请日: 2017-08-29
公开(公告)号: CN107788999A 公开(公告)日: 2018-03-13
发明(设计)人: 礒田圭;冈村真一;板屋敬子 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达株式会社
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 于丽
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 闪烁 体面
【说明书】:

技术领域

本发明涉及具有粘附性优良的闪烁体层的闪烁体面板。

背景技术

近年来,以计算机造影(CR:computed radiography)、平板探测器(FPD:flat panel detector)等为代表的数字方式的放射线图像检测器直接得到数字的放射线图像,能够在阴极管、液晶面板等图像显示装置上直接显示图像,所以广泛用于医院以及诊所等处的图像诊断。最近,使用包含碘化铯(CsI)的闪烁体层并组合有薄膜晶体管(TFT)的平板作为高灵敏度的X射线图像可视化系统受到瞩目。

尝试了通过在这样的闪烁体层设置使由闪烁体层内的荧光体变换而产生的光在传感器面板侧反射的底涂层(例如金属反射层等),从而降低发射光的损失,得到发光亮度优异的闪烁体。

这样的底涂层通常由无机物构成,但由于无机物的高刚性,所以担心在这样的物质上蒸镀荧光体时,必定会发生闪烁体的膜剥离。

因此,期望促进用于防止膜剥离的粘附性,但在向刚性高的无机物上形成闪烁体层的情况下,促进粘附性的有用的手法完全未知。

专利文献1(日本特开2012-168010号公报)、专利文献2(日本特开2014-55977号公报)和专利文献3(日本特开2008-51783号公报)中,公开了使活性剂浓度局部地变化的情况,并且在专利文献4(日本特开2010-165916号公报)中,限定传感器侧的半导体杂质浓度,但完全没有启示对底涂层和闪烁体层的粘附性的影响。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2012-168010号公报

专利文献2:日本特开2014-055977号公报

专利文献3:日本特开2008-051783号公报

专利文献4:日本特开2015-001397号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

本发明的目的在于提供一种促进底涂层和闪烁体层的粘附性来抑制膜剥离的闪烁体面板。

解决技术问题的技术方案

在这样的状况下,本发明人在专心研究之后认为,为了促进粘附性,考虑底涂层和闪烁体层的成分的相互扩散以及底涂层表面的有机杂质的影响。

另外,发现了通过减少底涂层最表面(与闪烁体相接的面)的原子数%,能够解决上述课题,以致完成本发明。本发明的结构如以下所述。

[1]一种闪烁体面板,至少包括:

闪烁体层,将放射线变换为可见光;

反射层,使通过闪烁体层变换而得到的可见光反射;以及

底涂层,存在于闪烁体层与反射层之间,其中的至少一层在图像形成区域中与闪烁体层相接,

所述闪烁体面板的特征在于,

所述底涂层含有金属化合物,在底涂层内,金属化合物的量具有分布,并且在图像形成区域中与闪烁体层相接的底涂层表面的金属元素的原子数%小于底涂层的其它部位的金属元素的原子数%。

[2]根据[1]记载的闪烁体面板,其特征在于,在所述闪烁体面板中,所述金属化合物是金属氧化物。

[3]根据[1]或者[2]记载的闪烁体面板,其特征在于,在所述闪烁体面板中,在图像形成区域中与闪烁体层相接的底涂层表面的常温常压下为气体的物质中的至少一个以上的物质的原子数%在0.1%以上。

[4]根据[1]~[3]中的任意一项所述的闪烁体面板,其特征在于,在所述闪烁体面板中,在所述图像形成区域中与闪烁体层相接的底涂层仅由金属氧化物构成。

[5]根据[4]记载的闪烁体面板,其特征在于,在所述闪烁体面板中,在图像形成区域中与闪烁体层相接的底涂层表面的碳的原子数%在0.1%以下。

[6]根据[1]~[5]中的任意一项所述的闪烁体面板,其特征在于,在所述闪烁体面板中,所述闪烁体层不包含粘合剂树脂。

[7]根据[6]记载的闪烁体面板,其特征在于,在所述闪烁体面板中,所述闪烁体层由物理蒸镀物构成。

[8]根据[7]记载的闪烁体面板,其特征在于,在所述闪烁体面板中,所述闪烁体层以碘化铯为主成分。

发明效果

本发明的闪烁体面板具备如下特征:在图像形成区域中与闪烁体层相接的底涂层表面的金属元素的原子数%小于底涂层的其它部位的金属元素的原子数%。由此,底涂层和闪烁体层的界面粘附力提高,即使底涂层由如无机物那样的高刚性物质构成,也不会引起膜剥离,而能够抑制图像的劣化。

附图说明

图1是示出本发明的放射线检测器的示意剖面图。

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