[发明专利]一种位置姿态调整机构和天线测试的位置姿态调整方法有效

专利信息
申请号: 201710707588.8 申请日: 2017-08-17
公开(公告)号: CN107632209B 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 王鲲飞;吴翔;何鑫 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G05D3/12
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 许志勇
地址: 100854 北京市海*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 位置 姿态 调整 机构 天线 测试 方法
【说明书】:

本申请公开了一种位置姿态调整机构和天线测试的位置姿态调整方法,解决了转台自旋盘中心轴与反射面天线中心轴重合精度的问题。所述机构包括转动部件、平动部件、第一连接结构、第二连接结构、X轴平动装置和Y轴平动装置。所述方法包含以下步骤,调整激光源X轴和Y轴的转动和平动,使激光轨迹范围最小,并以此为基准点;调整天线安装面使基准点落在天线中心位置;安装反射镜,使自旋盘旋转时,激光通过反射镜反射在自旋盘上形成反射轨迹点;调整天线沿X轴和Y轴方向的转动,使自旋盘旋转时,所述反射轨迹范围最小。本发明机构结构简单,体积小,简化安装,方便使用,具有较强的可扩展性,本发明的方法简单方便,通用性强,应用范围广泛。

技术领域

本发明属于机械设计领域,尤其涉及一种位置姿态调整机构和调整方法。

背景技术

在导弹天线罩测试过程中,通常会用到测试转台,测试时要求转台自旋盘中心轴与远处的反射面天线中心轴有较高的重合度。

传统装调方法,转台各轴自身的旋转精度由厂家保证,自旋盘上安装工装,用工装与自旋盘止口定位,然后工装上安装激光源利用激光点直接找正天线位置,这种方法的缺点在于,激光源和转台自旋轴的同轴度无法保证,所以无法保证依靠激光源找正后安装天线的位置精度,从而无法保证转台自旋盘中心轴与远处的反射面天线中心轴的重合度,此外,该方法成本较高,周期较长,通用化程度较差。

发明内容

有鉴于此,为解决转台自旋盘中心轴与反射面天线中心轴重合精度的问题,本申请实施例提供了一种位置姿态调整机构和天线测试的位置姿态调整方法,所述方法以转台自旋盘中心轴为基准,调整天线的安装位置和姿态,使得天线中心轴和转台自旋盘中心轴满足要求重合度。

本申请实施例提供了一种位置姿态调整机构,包括转动部件、平动部件、第一连接结构、第二连接结构、X轴平动装置和Y轴平动装置;所述第一连接结构在所述转动部件和所述平动部件的中部形成活动连接点,所述活动方式为以该点为中心旋转运动;所述第二连接结构连接所述转动部件的顶部和所述平动部件顶部,使所述转动部件的顶部可相对于所述平动部件顶部沿X轴和Y轴方向移动;所述X轴平动装置和Y轴平动装置相连,所述平动部件与所述X轴平动装置或Y轴平动装置相连,调整所述X轴平动装置,能够使所述平动部件沿X轴平动,调整所述Y轴平动装置,能够使所述平动部件沿Y轴平动。

进一步地,所述位置姿态调整机构还包括被调整位置姿态的构件,所述构件安装在所述转动部件顶部,所述构件为激光源或天线。

本申请实施例还提供了一种天线测试的位置姿态调整方法,将所述激光源位置姿态调整机构一安装在自旋盘上,所述激光源的中心轴与所述自旋盘中心轴方向一致、且与天线安装面垂直,将所述天线位置姿态调整机构二安装在所述天线安装面上,天线的中心轴与所述自旋盘中心轴方向相反,包含以下步骤:调整所述机构一,所述激光源沿X轴和Y轴转动,使所述自旋盘旋转时,所述天线安装面上的激光轨迹范围最小;在所述自旋盘和所述天线安装面之间放一块测量板,调整所述机构一,所述激光源沿X轴和Y轴平动,使所述自旋盘旋转时,所述测量板上的激光轨迹范围最小;去掉所述测量板,调整所述机构一,所述激光源沿X轴和Y轴转动,使所述自旋盘旋转时,所述天线安装面上的激光轨迹范围最小,并以此为基准点;调整所述机构二,所述天线安装面沿X轴和Y轴方向平动,使所述基准点落在天线中心位置;在所述天线中心位置,平行于所述天线安装面上安装反射镜,使所述自旋盘旋转时,所述激光通过反射镜反射在自旋盘上形成反射轨迹点;调整所述机构二,所述天线沿X轴和Y轴方向转动,使所述自旋盘旋转时,所述反射轨迹范围最小。

本申请实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果:

可以实现转台自旋盘中心轴与天线中心轴重合,调整方法简单方便,通用性强,应用范围广泛。

调整机构结构形式简单,体积小巧,对原运动机构工作无影响,可以做成独立模块,简化安装,方便使用。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电计量测试研究所,未经北京无线电计量测试研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710707588.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top