[发明专利]一种激光测量系统及方法

权利要求书

1.一种激光测量系统，其特征在于：包括锁相环电路、调制发射电路、光信号接收电路、光学透镜和鉴相器，所述锁相环电路分别与调制发射电路、光信号接收电路和鉴相器连接，用于产生高频信号、本振信号和基准信号；所述调制发射电路用于接入高频信号并产生测量光束；所述光信号接收电路用于接入本振信号和接收经过光学透镜聚焦的激光反射信号，经混频得到差频信号；所述鉴相器用于接收基准信号和差频信号，并将基准信号和差频信号进行相位比较得到相位差，进而得出被测物体的距离值。

2.根据权利要求1所述的激光测量系统，其特征在于：所述调制发射电路包括半导体激光管和自动控制电流模块，所述半导体激光管用于接入高频信号并调制产生测量光束，所述自动控制电流模块用于控制工作电流的大小。

3.根据权利要求1所述的激光测量系统，其特征在于：所述光信号接收电路包括雪崩二极管和光电管，所述雪崩二极管接入本振信号，所述光电管具有接收和混频双重作用，接收反射光信号转换成高频电信号的同时，又将该高频电信号和本振信号进行混频，解调出低频率的差频信号。

4.根据权利要求3所述的激光测量系统，其特征在于：所述光信号接收电路还包括差频信号放大电路，设置在光信号接收电路和鉴相器之间，用于对光信号接收电路输出的差频信号进行放大处理。

5.一种采用权利要求1所述的激光测量方法，其特征在于，包括：锁相环电路输出高频信号、本振信号和基准信号；基准信号送到鉴相器中等待比较；高频信号经调制发射电路处理后产生测量光束；测量光束照射到被测物体表面，然后反射回来的激光信号被光信号接收电路接收，光信号接收电路同时接入本振信号，经混频得到差频信号；差频信号通过差频信号放大电路进一步放大送到鉴相器中；鉴相器中基准信号与差频信号做相位比较得到相位差，进而得出被测物体的距离值。