[发明专利]跨阻放大器增益筛选测试的方法及电路

权利要求书

1.一种跨阻放大器增益筛选测试的电路，其特征在于，跨阻放大器测试芯片包括第一输入端、第二输入端、交流信号输出端、直流电压输出端；待测跨阻放大器包括交流信号输入端、第一输出端、第二输出端；交流信号输出端连接交流信号输入端；第一输出端连接第一输入端，第二输出端连接第二输入端；所述交流信号输出端发送交流电流信号至交流信号输入端，待测跨阻放大器分别自第一输出端、第二输出端输出交流电压信号至第一输入端、第二输入端；所述跨阻放大器测试芯片包括交流电流信号形成模块、直流电压信号形成模块； 交流电流信号形成模块包括基准电压、定值电阻、开关器；由基准电压值除以定值电阻值得到电流值；开关器按照预设频率开关，形成交流电流信号； 直流电压信号形成模块包括交直流转换装置、电压放大装置；交直流转换装置将第一输入端、第二输入端接收的交流电压信号转换为直流电压信号，形成转化系数；电压放大装置放大转换系数；所述交流电流信号形成模块包括运算放大器I3、PMOS管M0、PMOS管M1、NMOS管M2、定值电阻R0、时钟信号Clock；运算放大器I3的反相输入端设置基准电压；运算放大器I3的输出端连接PMOS管M0的栅极与PMOS管M1的栅极；运算放大器I3的正相输入端与PMOS管M0的漏极连接定值电阻R0的一端，定值电阻R0的另一端接地；PMOS管M0的源极与PMOS管M1的源极连接电源Vdd；PMOS管M1的漏极连接NMOS管M2的漏极，NMOS管M2的栅极由时钟信号Clock控制，NMOS管M2的源极为所述交流信号输出端；所述运算放大器I3、PMOS管M0、定值电阻R0构成反馈电路；定值电阻R0由于反馈电路的钳制作用两端电压与基准电压相同；PMOS管M0与PMOS管M1形成电流镜，流经PMOS管M1、NMOS管M2的电流I1等于电流I0；电流I1自PMOS管M1的漏极流至NMOS管M2的漏极；当时钟信号Clock发出高电平时，NMOS管M2导通，I1流出NMOS管M2的源极，交流信号输出端输出I1；当时钟信号Clock发出低电平时，NMOS管M2不导通，交流信号输出端无输出；所述交直流转换装置包括差分放大器、二极管D0、二极管D1、电容C0；所述第一输入端、第二输入端即为差分放大器的两个输入端，差分放大器的两个输出端为第一差分输出端、第二差分输出端并且分别连接二极管D0的正极、二极管D1的正极；二极管D0的负极、二极管D1的负极连接电容C0的正极，电容C0的负极接地，二极管D0、二极管D1与电容C0形成全波整流电路； 所述电压放大装置包括NMOS管M3、NMOS管M4、电阻R1；NMOS管M3的栅极、NMOS管M3的漏极、NMOS管M4的栅极均连接电容C0的正极，NMOS管M3的源极、NMOS管M4的源极均接地，NMOS管M4的漏极接电阻R1的一端和直流电压输出端，电阻R1的另一端接电源；

跨阻放大器测试芯片发送一个交流电流信号至待测跨阻放大器中，待测跨阻放大器输出交流电压信号至跨阻放大器测试芯片中；所述交流电压信号在跨阻放大器测试芯片中进行线性放大、整流，转化为一个直流电压信号Vout输出，放大增益为A，整流转换系数为k；直流电压信号Vout的计算公式为 Vout＝I*Gain*A*K Gain为跨阻放大器增益，I为交流电流信号的幅值、放大增益A、整流转换系数K均为预设的恒定值，直流电压信号Vout仅与跨阻放大器增益Gain有关；跨阻放大器测试芯片输出的直流电压信号离散性即为待测跨阻放大器的增益离散性。

2.根据权利要求1所述的跨阻放大器增益筛选测试的电路，其特征在于，差分交流电压信号自第一输入端、第二输入端输入到差分放大器，再由第一差分输出端、第二差分输出端输出；当第一差分输出端输出为正摆幅时，二极管D0导通，电流流通，差分交流电压信号对电容C0充电；当第一差分输出端输出负摆幅时，二极管D0截止，电容C0不充电；当第二差分输出端输出正摆幅时，二极管D1导通，电流流通，差分交流电压信号对电容C0充电；当第二差分输出端输出负摆幅时，二极管D1截止，电容C0不充电； 当第一差分输出端为正摆幅时，第二差分输出端为负摆幅；当第一差分输出端为负摆幅时，第二差分输出端为正摆幅；差分交流电压信号通过二极管D0、二极管D1不断地对电容C0充电，形成稳定直流电流信号。

3.根据权利要求2所述的跨阻放大器增益筛选测试的电路，其特征在于，NMOS管M3与NMOS管M4形成一个比例电流镜；流经NMOS管M3的电流I2经过比例电流镜放大与电阻R1，直流电压输出端输出直流电压信号。