[发明专利]锰铜分流器的引线结构、PCB板及PCB板的走线结构

说明书

本发明公开了一种锰铜分流器的引线结构、PCB板及PCB板的走线结构，锰铜分流器的第一电流采样端和第二电流采样端位于锰铜分流器的同侧，第二电流采样端受外部交变磁场干扰；第一采样信号线在与锰铜分流器平行设置的PCB板上形成一个环形走线，并以平行或者双绞的方式与第二采样信号线一起连接到芯片的AD采样，以将外部交变磁场干扰引入第一电流采样端，使第一电流采样端受到与第二电流采样端受到的外部交变磁场干扰大小相同的外部交变磁场干扰。本发明采用改变锰铜分流器的电流采样端在PCB板上的走线方式，将交变磁场对第二电流采样端的干扰引进第一电流采样端，两者干扰相互抵消，从而防止交变磁场对锰铜分流器的采样干扰。

技术领域

本发明涉及电子电路技术领域，尤其涉及一种锰铜分流器的引线结构、PCB板及PCB板的走线结构。

背景技术

锰铜分流器广泛运用于仪表测量电流领域，可用于对通讯系统、电子整机、自动化控制的电源等的回流、限流、均流的取样检测。锰铜分流器具有稳定性好、温度变化量小的特点。该器件作为电子式电能表的电流采样器件，已经有几十年的历史，直至今日仍作为一种不可缺少的采样器件进行使用。

现有的锰铜分流器通常通过固定紫铜片固定于电子设备的进线端，锰铜分流器的电流取样端与电子线路PCB板之间用二条电流取样信号线相连接，取样信号线采用立式走线方式或是直接焊接在PCB板上。由于锰铜分流器采集的电流信号非常微小，一般是微伏级的，所以传统的这种直接安装在端子上或者串联在继电器上的走线方式，特别容易受交变磁场的干扰，从而导致电流采样和计量不准确。

根据法拉第电磁感应定律，线圈产生的感应电动势计算公式为：E＝NdΦ/dt(其中φ＝BS，B为磁场强度，S为有效面积，N＝1)，当有交变磁场干扰时，在锰铜本身、线缆与锰铜的间隙或是PCB板和锰铜的间隙都有闭合环路，在采样端就会产生相应的感应电动势，该感应电动势经过后续电路放大、AD转换后严重影响电流采样的准确性。现有的某些不法分子便利用现有基于锰铜采样的电能表易受外部交变磁场影响不能准确计量的缺陷进行窃电，经测算利用该手段窃电导致的误差随交变磁场强度的强弱而变化，最大误差可以达到100％。此外，对锰铜分流器自身设计中内部的交变电磁干扰也不容忽视，例如，工频变压器漏磁影响表计运行误差；三相表三锰铜对称式接法，相与相之间电磁感应电流过大，小信号影响严重等。

因此，如何抵抗外界交变磁场对锰铜分流器的干扰，是一个函待解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种抗外界交变磁场干扰的锰铜分流器的引线结构、PCB板及PCB板的走线结构，主要用于电能表领域的抗外界交变磁场干扰的锰铜电流采样器件。

本发明提供的锰铜分流器的引线结构，所述锰铜分流器包括第一电流采样端和第二电流采样端，其特征在于，所述第一电流采样端连接有第一采样信号线，所述第二电流采样端连接有第二采样信号线；

所述第一电流采样端和第二电流采样端位于所述锰铜分流器的同侧；所述第二电流采样端受外部交变磁场干扰；

所述第一采样信号线，在与所述锰铜分流器平行设置的PCB板上形成一个环形走线，并以平行或者双绞的方式与所述第二采样信号线一起连接到芯片的AD采样，以将外部交变磁场干扰引入所述第一电流采样端，使所述第一电流采样端受到与所述第二电流采样端受到的外部交变磁场干扰大小相同的外部交变磁场干扰。

作为一种可实施方式，所述锰铜分流器垂直焊接在第一PCB板上；

所述锰铜分流器的一侧平行设置有第二PCB板；

所述第一采样信号线从所述第一电流采样端走到所述第二PCB板上，形成一个环形走线后，回到所述第一PCB板上，最后以平行或者双绞的方式与所述第二采样信号线一起连接到芯片的AD采样。

作为一种可实施方式，所述锰铜分流器平行焊接在第三PCB板上；