[发明专利]增加电介质常数的PLZT电容器和方法有效

专利信息
申请号: 201710325781.5 申请日: 2017-05-10
公开(公告)号: CN107369555B 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: R·S·泰勒;M·R·费尔柴尔德;U·巴拉钱德拉;T·H·李 申请(专利权)人: 德尔福技术有限公司;U芝加哥阿尔贡股份有限公司
主分类号: H01G4/12 分类号: H01G4/12;H01G4/33
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 李玲
地址: 美国密*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 增加 电介质 常数 plzt 电容器 方法
【权利要求书】:

1.一种陶瓷电容器(10),包括:

第一导电层(14);

第二导电层(18),其被布置成靠近第一导电层(14);以及

电介质层(16),介于所述第一导电层(14)和第二导电层(18)之间,所述电介质层(16)由锆钛酸铅镧材料PLZT形成,其中所述PLZT由在25摄氏度、零伏特偏压和一万赫兹(10kHz)的激发频率下测得的大于125的电介质常数来表征。

2.根据权利要求1所述的陶瓷电容器(10),其特征在于,所述电介质层(16)利用气溶胶喷雾工艺沉积。

3.根据权利要求1所述的陶瓷电容器(10),其特征在于,所述电介质层(16)的第一侧与所述第一导电层(14)直接接触,并且与所述第一侧相对的所述电介质层(16)的第二侧与所述第二导电层(18)直接接触。

4.根据权利要求1所述的陶瓷电容器(10),其特征在于,亚微米空气传播的PLZT颗粒的冲击速度生成所需的热量以使所述PLZT颗粒一经沉积到所述第一导电层(14)上就被烧结在一起。

5.一种用于增加锆钛酸铅镧材料PLZT的电介质常数的方法(20),所述方法(20)包括:

沉积PLZT以形成陶瓷电容器(10)的电介质层(16);并且

将陶瓷电容器(10)加热至不高于300℃的温度,

其中所述PLZT由在25摄氏度、零伏特偏压和一万赫兹(10kHz)的激发频率下测得的大于125的电介质常数来表征。

6.根据权利要求5所述的方法(20),其特征在于,在10摄氏度和38摄氏度之间的沉积温度下执行所述沉积PLZT。

7.根据权利要求5所述的方法(20),其特征在于,亚微米空气传播的PLZT颗粒的冲击速度生成所需的热量以使所述PLZT颗粒一经沉积到所述陶瓷电容器的导电层上就被烧结在一起。

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