[发明专利]低温系统和方法

权利要求书

1.一种低温样品分析系统，包括：

与所述系统周围的环境直接物理接触的系统壳体；

在系统壳体内的样品台；和

谐振频率隔离组件，所述谐振频率隔离组件在操作上接合在样品台与壳体之间，

其中所述谐振频率隔离组件包括悬挂重锤式构件的偏置机构，所述重锤式构件限定比样品台的质量大得多的质量。

2.根据权利要求1所述的低温样品分析系统，其中，偏置机构包括一个或多个盘簧。

3.根据权利要求2所述的低温样品分析系统，其中，重锤式构件通过一个或多个弹簧从系统壳体悬挂。

4.根据权利要求1所述的低温样品分析系统，其中，偏置机构包括一个或多个板簧。

5.根据权利要求4所述的低温样品分析系统，其中，重锤式构件通过一个或多个板簧被支撑在壳体内。

6.根据权利要求1所述的低温样品分析系统，其中，样品台在操作上联接到冷头。

7.根据权利要求6所述的低温样品分析系统，还包括围绕所述冷头的隔离壁。

8.根据权利要求6所述的低温样品分析系统，还包括在样品台与谐振频率隔离组件之间的隔离材料，所述冷头延伸通过隔离材料内的开口。

9.根据权利要求8所述的低温样品分析系统，其中，隔离材料支撑样品台。

10.一种用于分析低温冷却样品的方法，所述方法包括以下步骤：

将样品放置在样品台上；

低温冷却样品台和样品，其中所述低温冷却样品台的步骤包括将冷头热联接到样品台；

使样品台和样品两者都与外部温度和谐振频率两者隔离，

衰减低温冷却期间产生的谐振频率，其中所述衰减包括：将悬挂的重大质量块与样品台机械地相关联；

通过谐振频率隔离组件在样品台与悬挂的重大质量块之间提供隔离屏障，其中所述谐振频率隔离组件包括悬挂重锤式构件的偏置机构，所述重锤式构件限定比样品台的质量大得多的质量。

11.根据权利要求10所述的方法，还包括以下步骤：通过移动悬挂的重大质量块调节样品台的位置。