[发明专利]XY平台移动误差检测方法和系统

说明书

本发明涉及一种XY平台移动误差检测方法包括：根据预设线路两次移动XY平台上的样本；对样本参考位置进行两次图像拍摄；计算两次图像之间的偏移量以获得XY平台的移动误差；以及显示所述移动误差。本发明还提供一种XY平台移动误差检测系统，本发明的XY平台移动误差检测方法和系统解决了现有技术基因测序平台无法对XY平台移动进行误差自检的问题。

技术领域

本发明涉及基因测序领域，更具体地说，本发明涉及一种XY平台移动误差检测方法和系统。

背景技术

基因测序领域通常需要对样本进行图像拍摄和识别，由于成像装置的镜头观测范围远小于样本的面积，因此镜头每次只能对样本的局部进行拍摄。现有技术通常采用连续步进的方式依次拍摄适配成像装置的观测范围的多个区域,依次对每个小区域进行拍摄。多次拍摄过程中需要XY平台来回移动，如果XY平台移动误差过大会严重影响拍摄图像的质量，导致对相同小区域进行图像拍摄出现较大的位移，进而使得后续有效图像数据减少，降低基因测序的通量。因此有必要提供一种检测XY平台移动误差的方法，用于在基因测序设备出现问题时提供XY平台自检数据以确认故障位置，或在基因测序设备初始化过程中给用户提供XY平台性能参考数据。

发明内容

本发明的目的在于提供一种XY平台移动误差检测方法和系统，旨在解决现有技术基因测序平台无法对XY平台移动进行误差自检的问题。

一种XY平台移动误差检测方法包括：

根据预设线路两次移动XY平台上的样本；

对样本参考位置进行两次图像拍摄；

计算两次图像之间的偏移量以获得XY平台的移动误差；以及

显示所述移动误差。

进一步地，所述预设线路包括沿X轴的移动和沿Y轴方向的移动。

进一步地，所述XY平台移动误差检测方法还包括当所述移动误差超出预设阈值时，显示报警信息。

进一步地，所述XY平台移动误差检测方法还包括检测环境温度，并显示所述移动误差对应的环境温度。

进一步地，所述样本包括多个磁珠。

进一步地，所述XY平台包括一复位点，所述根据预设线路两次移动XY平台上的样本，对样本参考位置进行两次图像拍摄包括：

从复位点沿预设线路移动XY平台，使成像装置对位所述参考位置并进行第一次图像拍摄，获得第一图像；

再次从复位点沿预设线路移动XY平台，使成像装置对位所述参考位置并进行第二次图像拍摄，获得第二图像；以及

计算第一图像和第二图像之间的偏移量并换算为XY平台的移动误差。

一种XY平台移动误差检测方法包括：

根据不同预设线路多次移动XY平台上的样本；

对样本参考位置进行多次图像拍摄；

计算多次图像之间的平均偏移量以获得XY平台的移动误差；以及

显示所述移动误差。

进一步地，所述XY平台包括一复位点，所述对样本参考位置进行多次图像拍摄包括：

从复位点沿第一预设线路移动XY平台，使成像装置对位所述参考位置并进行第一次图像拍摄，获得第一图像；

再次从复位点沿第一预设线路移动XY平台，使成像装置对位所述参考位置并进行第二次图像拍摄，获得第二图像；

从复位点沿第二预设线路移动XY平台，使成像装置对位所述参考位置并进行第三次图像拍摄，获得第三图像；以及