[发明专利]用于焦平面成像器件绝对光谱响应的通用快速测量方法

权利要求书

1.一种用于焦平面成像器件绝对光谱响应的通用快速测量方法，其特征在于按下列步骤进行：

a、采用光阑限制光束，保证焦平面成像器件的感光区域完全覆盖光斑，通过光谱扫描测试，获得焦平面成像器件的相对光谱响应：按照光谱分辨率的要求，在待测的光谱范围λ_min—λ_max内取n个波长点，标记为λ₁—λ_n，含参考探测器校准波长λ_ref，以单色光斑照射焦平面成像器件，测试获得每个波长点的相对光谱响应R_{r_λ1}至R_{r_λn}。；

b、以波长为λ_ref的单色光照射参考探测器，测试获得参考探测器的输出电流I_ref；

c、计算焦平面成像器件的绝对光谱响应：通过I_ref和参考探测器在波长λ_ref点的校准值Q_λref，单位A/W，计算校准波长单色光斑的功率L_ref，根据L_ref和焦平面成像器件λ_ref点的相对光谱响应R_{r_λref}，计算得出焦平面成像器件λ_ref点的绝对光谱响应R_λref，然后以公式R_λm＝R_{r_λm}/R_{r_λref}×R_λref，其中m为1—n中的任意整数，计算获得其它波长点的绝对光谱响应。

2.根据权利要求1中所述的测试方法，其特征在于步骤a中采用n个波长点λ₁—λ_n的单色光斑照射下，直接采集焦平面成像器件整幅输出图像，根据图像序列计算焦平面成像器件的相对光谱响应，波长λ_m单色光斑照射下焦平面成像器件的整幅输出图像所有像元的灰度累加值为S_{light_λm}，与暗场输出图像的灰度累加值S_{dark_λm}相减，获得扣除暗场本底后的信号输出S_{signal_λm}，根据焦平面成像器件的转换增益、积分时间，计算出相对光谱响应R_{r_λm}。

3.根据权利要求2所述的通过整幅图像输出计算相对光谱响应的方法，其特征在于：获取灰度累加值S_{light_λm}和S_{dark_λm}时，均采用多幅图像取均值的方法，以减小测量误差以及时间、温度等因素导致的测量值起伏。