[发明专利]一种用于光纤中子探测系统测试与标定的探头及其测试标定方法

权利要求书

1.一种探头进行微弱光探测计数系统标定的方法，其特征在于，

所述的探头包括光纤末端、均匀涂覆在光纤末端表面的探测材料，及覆盖在探测材料外的金属盖帽，

所述的探测材料由含²³²Th的物质以及闪烁体材料组成；

所述的金属盖帽起到既能保证被测中子顺利通过，又能避光的作用，

所述的方法包括如下步骤：

(1)将所述的探头与已知探测效率η的微弱光探测计数系统相连接，由此可得到探头自动发射光子的速率；

(2)将探头与未知探测效率的微弱光探测计数系统相连接，如该系统无计数，可判断该系统发生故障，可起到测试该系统能否正常工作的作用；如该系统能够正常工作，则由该系统每秒钟测得的计数除以探头每秒钟发射的光子数，即得到该微弱光探测计数系统的探测效率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述的含²³²Th的物质为²³²ThO₂；所述的闪烁体材料为ZnS:Ag。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于：所述的含²³²Th的物质与所述的ZnS的摩尔比为1:0.1-1:10。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述的光纤为传导光纤，所述的传导光纤为石英光纤或塑料光纤。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：所述的探测材料涂覆在所述的传导光纤末端的顶端。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述的光纤为波长转换光纤。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于：所述的探测材料涂覆在所述的波长转换光纤末端的顶端及侧面。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述的光纤为相互连接的传导光纤与波长转换光纤，所述的探测材料涂覆在所述的波长转换光纤末端的顶端及侧面。