[发明专利]一种OLED显示面板及显示装置

说明书

本发明提供了一种OLED显示面板及显示装置，该OLED显示面板包括基板和OLED结构，该OLED结构包括位于该基板上的第一电极层、位于该第一电极层上的发光结构层以及位于该发光结构层上的第二电极层；该第一电极层包括发光像素电极组和测试像素电极组，该测试像素电极组围绕该发光像素电极组设置，且该发光像素电极组和测试像素电极组彼此电绝缘。上述OLED显示面板及显示装置在进行封装效果检测时，不仅可以检测正面封装效果，还可以检测边缘封装效果，提高封装效果的检测准确性。

【技术领域】

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种OLED显示面板及显示装置。

【背景技术】

有机电致发光(Organic Light Emitting Diode,OLED)技术是一种新型的显示、照明技术。

目前，很多显示装置均采用OLED技术，比如手机屏幕、电脑显示屏、全彩电视等。通常，OLED显示装置包括衬底基板、OLED结构和封装结构，OLED结构位于衬底基板上，封装结构与衬底基板共同形成封装空腔，OLED结构封装在封装空腔内。该OLED结构是通过真空蒸镀技术制备的多层薄膜，即：在真空环境(约10Pa^-5Pa)中加热有机/金属材料，材料受热升华，通过具有特殊图案的掩膜板,在衬底基板表面形成具有一定形状的有机/金属薄膜。经历多种材料的连续沉积成膜，即可形成具有多层薄膜的OLED结构。

由于上述OLED结构对氧和水汽非常敏感，因此，通常对OLED显示装置的封装效果要求较高。目前，OLED显示装置在生产时，会对OLED显示装置的封装效果进行监控或检测，以将封装失效的OLED显示装置(水或/和氧已渗入封装空腔内的OLED显示装置)筛选出来，提高OLED显示装置的出厂合格率。如图1，常见的检测装置包括密闭框体100，位于密闭框体100中的一对固定板200，测量传感器300以及开设于该密闭框体100上的外部接口400，其中，封装好的OLED显示装置500安装在该一对固定板200之间，外部接口400和测量传感器300位于OLED显示装置500两侧。当水汽和氧气通过外部接口400进入密闭框体100所围的空间时，水汽和氧气会正面侵蚀OLED显示装置500，此时，测量传感器300可以检测水汽和氧气穿透OLED显示装置500的浓度，从而得到OLED显示装置500的封装能力。但是，这种检测方法实际上检测的是OLED显示装置500中封装结构(图中未示出)正面隔绝水汽和氧气的能力，对于封装层四周和沉底接触的部分的隔绝能力却无法测定，检测结果存在一定的误差，准确性低。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种OLED显示面板及显示装置，以解决现有OLED显示装置只能检测正面封装效果，无法检测边缘封装效果的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种OLED显示面板，包括：基板和OLED结构，所述OLED结构包括位于所述基板上的第一电极层、位于所述第一电极层上的发光结构层以及位于所述发光结构层上的第二电极层；所述第一电极层包括发光像素电极组和测试像素电极组，所述测试像素电极组围绕所述发光像素电极组设置，且所述发光像素电极组和测试像素电极组彼此电绝缘。

进一步地，所述测试像素电极组中单个测试像素电极的面积小于或等于所述发光像素电极组中相应的单个发光像素电极的面积。

进一步地，所述测试像素电极包括红光测试电极、绿光测试电极和蓝光测试电极，所述蓝光测试电极的面积大于或等于所述绿光测试电极或红光测试电极的面积。

进一步地，所述红光测试电极、绿光测试电极和蓝光测试电极均包括至少两个子像素电极，所述子像素电极的形状为块状，任意两个所述子像素电极间隔设置或各自采用单独阳极。

进一步地，在所述红光测试电极或绿光测试电极或蓝光测试电极中，任意两个所述子像素电极共用一个阳极。