[发明专利]RFID标签性能测试暗箱

说明书

技术领域

本发明涉及摄像领域，特别涉及一种RFID标签性能测试暗箱。

背景技术

当前UHF RFID标签测试暗箱都是3米法或10米法。3米法是指在3米测试距离拥有2米静区，10米法是指10米测试距离拥有3米或更大静区。这两种大型的测试暗箱都只能固定在指定的场所，并且造价成本非常高昂。由于现有的UHF RFID标签测试暗箱体积比较大，所以不能随身携带，由于测试人员不能随身携带，也就不能随时查看标签测试时的位置是否放置正确。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种体积较小、成本较低、测试人员能随身携带、能随时查看标签测试时的位置、能追踪回查某个标签当时的测试状况的RFID标签性能测试暗箱。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种RFID标签性能测试暗箱，包括箱体，所述箱体包括上箱体和下箱体，在所述上箱体和下箱体的结合部设有第一托盘，在所述第一托盘上设置有固定式条码扫描器、摄像头和上位机，在所述第一托盘的中心位置设有一个孔，所述下箱体中设有用于放置RFID标签的第二托盘，所述RFID标签上设有条码，在所述下箱体的背面设有RFID读写器，所述固定式条码扫描器、摄像头和RFID读写器通过一个集线器与所述上位机连接，在所述下箱体内部的底端设有一个RFID读写天线，所述固定式条码扫描器通过所述孔扫描所述条码并将扫描信息通过所述集线器发送到所述上位机，所述摄像头通过所述孔拍摄所述RFID标签的摆放位置，并将拍摄的图片通过所述集线器发送到所述上位机，所述RFID读写器通过所述RFID读写天线读取所述RFID标签的信息，并将读取的标签信息通过所述集线器发送到所述上位机，所述上位机收到所述扫描信息、拍摄的图片和标签信息后，进行分析后生成测试报告；所述箱体的高度小于或等于52cm，所述箱体的宽度小于或等于32cm，所述箱体的深度小于或等于28cm。

在本发明所述的RFID标签性能测试暗箱中，所述下箱体的内壁上贴附有吸波材料。

在本发明所述的RFID标签性能测试暗箱中，所述第二托盘为泡沫托盘。

在本发明所述的RFID标签性能测试暗箱中，所述上位机为PC机或平板电脑。

在本发明所述的RFID标签性能测试暗箱中，所述箱体的材质为金属。

在本发明所述的RFID标签性能测试暗箱中，所述金属为铁。

在本发明所述的RFID标签性能测试暗箱中，所述上箱体的一侧设有上箱门，所述下箱体的一侧设有下箱门。

在本发明所述的RFID标签性能测试暗箱中，所述RFID标签为UHF频段的RFID电子标签。

实施本发明的RFID标签性能测试暗箱，具有以下有益效果：由于设有上箱体和下箱体，在上箱体和下箱体的结合部设有第一托盘，在第一托盘上设置有固定式条码扫描器、摄像头和上位机，在第一托盘的中心位置设有一个孔，下箱体中设有用于放置RFID标签的第二托盘，RFID标签上设有条码，在下箱体的背面设有RFID读写器，固定式条码扫描器、摄像头和RFID读写器通过一个集线器与上位机连接，在下箱体内部的底端设有一个RFID读写天线，固定式条码扫描器通过孔扫描条码并将扫描信息通过集线器发送到上位机，摄像头通过孔拍摄RFID标签的摆放位置，并将拍摄的图片通过所述集线器发送到上位机，RFID读写器通过RFID读写天线读取RFID标签的信息，并将读取的标签信息通过集线器发送到上位机，上位机收到扫描信息、拍摄的图片和标签信息后，进行分析后生成测试报告；箱体的高度小于或等于52cm，箱体的宽度小于或等于32cm，箱体的深度小于或等于28cm，其体积较小，测试人员可以随身携带，在做RFID标签的性能测试时，通过摄像头对RFID标签的摆放位置进行拍照记录，测试人员可以随时查看RFID标签测试时的位置是否放置正确，所以其体积较小、成本较低、测试人员能随身携带、能随时查看标签测试时的位置、能追踪回查某个标签当时的测试状况。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明RFID标签性能测试暗箱一个实施例中的结构示意图；

图2为所述实施例中RFID标签性能测试暗箱的结构分解示意图；