[发明专利]探针和校正方法

权利要求书

1.一种用于与测量设备一同使用的探针(100、200)，所述探针(100、200)包括：

第一信号输入(101、201)；

第一分压器(103)，与所述第一信号输入(101、201)相连；

宽带放大器(109、209)，其中所述宽带放大器(109、209)的第一输入与所述第一分压器(103)的分压器输出相连，且所述宽带放大器(109、209)的第二输入接地；以及

DC校正电路(110)，被配置为基于通过所述第一信号输入(101、201)的电流(111)，产生用于所述宽带放大器(109、209)的DC电压。

2.根据权利要求1所述的探针(100、200)，包括：

第二信号输入(102、202)；以及

第二分压器(104)，与所述第二信号输入(102、202)相连；

其中所述宽带放大器(109、209)的第二输入与所述第二分压器(104)的分压器输出相连；以及

其中所述DC校正电路(110)被配置为基于通过所述第一信号输入(101、201)的电流(111)以及通过所述第二信号输入(102、202)的电流(112)，产生用于所述宽带放大器(109、209)的DC电压。

3.根据权利要求1和2中的任一项所述的探针(100、200)，其中所述分压器的上支路(105、107)中的阻抗值高于所述分压器的下支路(106、108)中的阻抗值。

4.根据权利要求2所述的探针(100、200)，其中所述第一分压器(103)和/或所述第二分压器(104)各自包括第一阻抗(250、253)，其中所述第一阻抗(250、253)连接在相应信号输入与第二阻抗(251、254)之间，其中所述第二阻抗(251、254)连接到第三阻抗(252、255)，其中在每种情况下的所述分压器输出是所述第二阻抗(251、254)和所述第三阻抗(252、255)之间的节点。

5.根据权利要求4所述的探针(100、200)，其中所述第一阻抗(250、253)的阻抗值高于所述第二阻抗(251、254)的阻抗值，且其中所述第二阻抗(251、254)的阻抗值等于所述第三阻抗(252、255)的阻抗值，

其中所述DC校正电路(110)被配置为通过测量相应第二阻抗(251、254)上的电压降来测量通过相应信号输入的电流(111、112)。

6.根据权利要求5所述的探针(100、200)，其中所述第一阻抗(250、253)和所述第二阻抗(251、254)的阻抗值的和等于相应分压器的分压比的分子，且第三阻抗(252、255)的阻抗值等于所述分压比的分母。

7.根据权利要求4所述的探针(100、200)，其中所述DC校正电路(110)包括用于所述第一信号输入和/或所述第二信号输入的测量差分放大器(227、228)，其中所述测量差分放大器(227、228)测量相应第二阻抗(251、254)上的电压降，

且其中所述DC校正电路(110)包括减法差分放大器(229)，所述减法差分放大器(229)与所述测量差分放大器(227、228)相连并计算所述测量差分放大器(227、228)的输出信号的差，

其中所述DC校正电路(110)基于所述减法差分放大器(229)的输出产生所述DC电压。

8.根据权利要求7所述的探针(100、200)，其中所述宽带放大器(109、209)包括信号差分放大器和/或其中所述测量差分放大器(227、228)包括高精度DC运算放大器；和/或

其中所述DC校正电路(110)包括调节差分放大器，所述调节差分放大器根据所述减法差分放大器(229)的输出来调节所述DC电压，并将经调节的DC电压提供给所述宽带放大器(109、209)。