[发明专利]一种膜层修复方法及系统

说明书

本申请提供了一种膜层修复方法及系统，用以提高膜层涂覆均一性，从而避免LCD画质不均、白点、暗点等不良发生，提升产品良率和市场竞争力，本申请提供的一种膜层修复方法包括：检测膜层是否有缺陷区域，在检测到所述膜层有缺陷区域时，确定各缺陷区域的第一尺寸和第一位置坐标；根据所述各缺陷区域的第一尺寸，确定修复各缺陷区域的修复参数；根据确定的修复各缺陷区域的修复参数和各缺陷区域的第一位置坐标，修复所述膜层。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种膜层修复方法及系统。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,TFT-LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等优点，近年来得到了飞速的发展，已经成为市场上显示器的主流。

聚酰亚胺(PI)是液晶显示装置配向过程中的关键材料之一，而PI膜层涂覆时，例如在TFT侧存在大量的有机膜(ORG)过孔、矩阵(Matrix)孔等，导致TFT侧膜层厚度差异较大，PI膜层涂覆时孔洞附近处PI膜层厚度相对较薄，PI膜层的表面不平整，即存在PI膜层涂覆不均问题。但目前还无有效的处理方式用于解决PI膜层涂覆不均问题，而PI膜层涂覆不均将导致的LCD画质不均、白点、暗点等不良发生，严重影响产品良率和市场竞争力。

当然，对于其他的膜层(例如保护层(Over Coat,OC膜层))也同样存在膜层涂覆不均问题，同样影响产品良率和市场竞争力。

基于此，如何解决膜层涂覆不均问题，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本申请实施例提供了一种膜层修复方法及系统，用以提高膜层涂覆均一性，从而避免LCD画质不均、白点、暗点等不良发生，提升产品良率和市场竞争力。

本申请实施例提供的一种膜层修复方法包括：

检测膜层是否有缺陷区域，在检测到所述膜层有缺陷区域时，确定各缺陷区域的第一尺寸和第一位置坐标；

根据所述各缺陷区域的第一尺寸，确定修复各缺陷区域的修复参数；

根据确定的修复各缺陷区域的修复参数和各缺陷区域的第一位置坐标，修复所述膜层。

本申请实施例提供的膜层修复方法，通过检测膜层是否有缺陷区域，在检测到所述膜层有缺陷区域时，确定各缺陷区域的第一尺寸和第一位置坐标；根据所述各缺陷区域的第一尺寸，确定修复各缺陷区域的修复参数；根据确定的修复各缺陷区域的修复参数和各缺陷区域的第一位置坐标，修复所述膜层，因此可以提高膜层涂覆均一性，从而避免LCD画质不均、白点、暗点等不良发生，提升产品良率和市场竞争力。

较佳地，所述检测膜层是否有缺陷区域，包括：

采集所述膜层的图片信息，将该图片信息与预先存储的无缺陷膜层图片信息进行比较，确定所述膜层是否有缺陷区域。

较佳地，所述根据所述各缺陷区域的第一尺寸，确定修复各缺陷区域的修复参数，包括：

根据所述各缺陷区域的第一尺寸，以及预先设定的缺陷等级判定信息确定各缺陷区域的第一缺陷等级；

根据所述各缺陷区域的第一缺陷等级，以及预先设定的缺陷等级与修复参数的对应关系，确定修复各缺陷区域的修复参数。

较佳地，在确定各缺陷区域的第一缺陷等级后，且在确定修复各缺陷区域的修复参数之前，该方法还包括：