[发明专利]用于测量孔内壁几何形状的装置和对应的方法有效

专利信息
申请号: 201680086023.6 申请日: 2016-09-14
公开(公告)号: CN109313020B 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: J·哈斯;A·施特赖歇尔;B·裘川;G·舒奥莫瑟 申请(专利权)人: 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
主分类号: G01B21/14 分类号: G01B21/14;G01B21/20;G01B11/12;G01B11/24;G01N21/954
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 江漪
地址: 德国奥*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 内壁 几何 形状 装置 对应 方法
【权利要求书】:

1.一种用于测量孔、钻孔和通道的内壁几何形状的装置,所述装置包括至少一个光学传感器,所述光学传感器朝向内壁测量,并且能够被引入被测的所述孔、钻孔或通道中以及通过进给/转动单元转动,其中,辅助件设置有通道且搁置在工件的表面上,所述传感器通过所述辅助件的通道被插入被测的所述孔、钻孔或通道中,

其特征在于,所述辅助件的内壁设置有结构,且所述传感器在穿过所述辅助件时扫描所述结构。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,被测的所述孔、钻孔和通道设有沉头部。

3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,被测的所述孔、钻孔和通道的所述内壁设置成用于工件的螺纹、销和铆钉连接。

4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述结构由于精确地制造而是已知的。

5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述结构能够通过测量和校准来确定。

6.根据权利要求1至5中任一权利要求所述的装置,其特征在于,所述结构是旋转对称的。

7.根据权利要求1至5中任一权利要求所述的装置,其特征在于,所述结构至所述辅助件的所述通道的相应边缘的轴向距离是已知的。

8.根据权利要求1至5中任一权利要求所述的装置,其特征在于,所述结构具有清楚的几何形状特征。

9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述结构由接连的平直部分和倾斜或成角度部分形成。

10.根据权利要求1至5中任一权利要求所述的装置,其特征在于,所述结构由亮度、材料和/或表面光洁度的差异、和/或一个或多个角部、边缘、肩部形成。

11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述结构由接连的平直部分和倾斜或成角度部分形成。

12.一种用于测量孔、钻孔和通道的内壁几何形状的方法,其中,一个光学传感器朝向内壁测量且能够被引入被测的所述孔、钻孔或通道中且通过进给/转动单元转动,其中,辅助件设置有通道且搁置在工件的表面上,所述传感器通过所述辅助件的通道被插入被测的所述孔、钻孔或通道中,

其特征在于,所述辅助件的内壁设置有结构,且所述传感器在穿过所述辅助件时扫描所述结构,且通过将在几何形状方面进行描述的形状拟合于读数并通过随后计算其交点来确定过渡点,其中,所述交点限定了过渡点。

13.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,所述过渡点针对所述结构的亮度、材料、表面光洁度、角部和/或边缘来确定。

14.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,所述在几何形状方面进行描述的形状包括曲线或直线。

15.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,所述在几何形状方面进行描述的形状包括圆弧。

16.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,被测的所述孔、钻孔和通道设有沉头部。

17.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,被测的所述孔、钻孔和通道的所述内壁设置成用于工件的螺纹、销和铆钉连接。

18.根据权利要求12至17中任一权利要求所述的方法,其特征在于,通过数学函数或算法将所述结构的读数逼近直线、多项式。

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