[发明专利]生物粒子计数器的校正方法及生物粒子计数器的校正装置有效
| 申请号: | 201680074759.1 | 申请日: | 2016-12-05 |
| 公开(公告)号: | CN108368473B | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
| 发明(设计)人: | 关本一真;大桥勇贵;三宫尚志;中岛勉;福田美幸;上野胜;植屋佑一 | 申请(专利权)人: | 理音株式会社 |
| 主分类号: | C12M1/34 | 分类号: | C12M1/34;G01N15/06;G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 李成必;李雪春 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 生物 粒子 计数器 校正 方法 装置 | ||
1.一种生物粒子计数器的校正方法,其特征在于,包括:
输入步骤,输入具有对作为测量对象的生物粒子的粒径及荧光特性进行模拟的粒径及荧光特性的校正用粒子的粒径和荧光剂参数值;
第一测量步骤,利用生物粒子计数器,生成关于校正用粒子的第一信号,所述生物粒子计数器具有生成与生物粒子相对于照射光而发出的荧光相对应的第一信号的第一电路、以及生成与所述生物粒子相对于所述照射光而发出的散射光相对应的第二信号的第二电路,并根据关于所述生物粒子的第一信号和第二信号对所述生物粒子进行计数;
第一调整步骤,调整所述第一电路,使得关于所述校正用粒子的第一信号的电压值成为第一信号的基准电压值;
第二测量步骤,利用所述生物粒子计数器,生成关于所述校正用粒子的第二信号;以及
第二调整步骤,调整所述第二电路,使得关于所述校正用粒子的第二信号的电压值成为第二信号的基准电压值,
所述校正用粒子是使聚苯乙烯粒子的表面内部浸润荧光剂的粒子,
在所述第一调整步骤中,
(a)使用在所述输入步骤中输入的所述校正用粒子的粒径和荧光剂参数值,并且使用对于各粒径表示所述荧光剂参数值与关于所述校正用粒子的第一信号的基准电压值以及关于所述校正用粒子的第二信号的基准电压值之间对应关系的基准数据,确定关于在所述第一测量步骤中使用的所述校正用粒子的第一信号的基准电压值,所述荧光剂参数值与所述校正用粒子的表面内部的所述荧光剂的含量相关,关于所述校正用粒子的第一信号的基准电压值与所述荧光剂参数值相对应;
(b)调整所述第一电路,使得关于所述校正用粒子的第一信号的电压值成为根据所述基准数据确定的关于所述校正用粒子的第一信号的基准电压值,
在所述第二调整步骤中,
(c)使用在所述输入步骤中输入的所述校正用粒子的粒径和荧光剂参数值,并且使用所述基准数据,确定关于在所述第二测量步骤中使用的所述校正用粒子的第二信号的基准电压值,关于所述校正用粒子的第二信号的基准电压值与所述荧光剂参数值相对应,
(d)调整所述第二电路,使得关于所述校正用粒子的第二信号的电压值根据所述基准数据确定的关于所述校正用粒子的第二信号的基准电压值。
2.根据权利要求1所述的生物粒子计数器的校正方法,其特征在于,从与多个粒径对应的所述基准数据中选择并使用与所述校正用粒子的粒径对应的所述基准数据。
3.根据权利要求1或2所述的生物粒子计数器的校正方法,其特征在于,至少在所述第一调整步骤之后,使所述生物粒子计数器对包含规定数量的所述校正用粒子的规定个数浓度液体内的校正用粒子进行计数、或对包含规定数量的所述校正用粒子和规定数量的聚苯乙烯粒子的规定标准浓度液体内的所述校正用粒子和聚苯乙烯粒子进行计数,并根据计数结果来确定所述生物粒子计数器的计数效率。
4.一种生物粒子计数器的校正装置,其特征在于,包括:
输入装置,输入具有对作为测量对象的生物粒子的粒径及荧光特性进行模拟的粒径及荧光特性的校正用粒子的粒径和荧光剂参数值;
测量值获取部,从生物粒子计数器获取关于校正用粒子的第一信号的电压值和第二信号的电压值,所述生物粒子计数器具有生成与生物粒子相对于照射光而发出的荧光相对应的第一信号的第一电路、以及生成与所述生物粒子相对于所述照射光而发出的散射光相对应的第二信号的第二电路,并根据关于所述生物粒子的第一信号和第二信号对所述生物粒子进行计数;以及
电路调整部,调整所述第一电路和所述第二电路,使得获取的关于所述校正用粒子的第一信号的电压值和第二信号的电压值分别成为关于所述校正用粒子的第一信号的基准电压值和关于所述校正用粒子的第二信号的基准电压值,
所述校正用粒子是使聚苯乙烯粒子的表面内部浸润荧光剂的粒子,
所述电路调整部,
(a)使用由所述输入装置输入的所述校正用粒子的粒径和荧光剂参数值,并且使用对于各粒径表示所述荧光剂参数值与关于所述校正用粒子的第一信号的基准电压值以及关于所述校正用粒子的第二信号的基准电压值之间对应关系的基准数据,确定关于由所述测量值获取部获取第一信号的电压值的所述校正用粒子的第一信号的基准电压值,所述荧光剂参数值与所述校正用粒子的表面内部的所述荧光剂的含量相关,关于所述校正用粒子的第一信号的基准电压值与所述荧光剂参数值相对应;
(b)调整所述第一电路,使得关于所述校正用粒子的第一信号的电压值成为根据所述基准数据确定的关于所述校正用粒子的第一信号的基准电压值;
(c)使用由所述输入装置输入的所述校正用粒子的粒径和荧光剂参数值,并且使用所述基准数据,确定关于由所述测量值获取部获取第二信号的电压值的所述校正用粒子的第二信号的基准电压值,关于所述校正用粒子的第二信号的基准电压值与所述荧光剂参数值相对应;
(d)调整所述第二电路,使得关于所述校正用粒子的第二信号的电压值成为根据所述基准数据确定的关于所述校正用粒子的第二信号的基准电压值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于理音株式会社,未经理音株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201680074759.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





