[发明专利]显示装置及其驱动方法有效

专利信息
申请号: 201680072618.6 申请日: 2016-12-13
公开(公告)号: CN108369792B 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 古川浩之;岸宣孝;吉山和良;山中成继;后藤尚子;酒井保;乙井克也 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G09G3/3233 分类号: G09G3/3233;G09G3/20;G09G3/30
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 汪飞亚;习冬梅
地址: 日本国大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 显示装置 及其 驱动 方法
【权利要求书】:

1.一种显示装置,包括光电学元件以及多个像素电路,所述光电学元件根据电流来控制亮度,所述多个像素电路包含驱动晶体管以作为电路元件,所述驱动晶体管用于控制应提供至所述光电学元件的电流,其特征在于,所述显示装置包括:

像素电路驱动部,其进行测量所述电路元件的特性的特性测量处理、及驱动所述多个像素电路的驱动处理;

特性数据存储部,其保存基于在所述特性测量处理中的测量结果所得到的特性数据;

补偿演算处理部,其基于保存于所述特性数据存储部的特性数据校正输入影像信号,由此生成应提供至所述多个像素电路的影像信号;

温度检测部,其检测温度;

测量控制部,其对应由所述温度检测部检测的检测温度,控制所述特性测量处理的实施频率;

第一特性数据校正部,其将基于在所述特性测量处理中的测量结果所得到的特性数据的值,校正为与基于由所述温度检测部检测到的所述特性测量处理时的温度的标准温度对应的值,并将校正后的特性数据存储于所述特性数据存储部;

第二特性数据校正部,其将保存于所述特性数据存储部的特性数据的值校正为与由所述温度检测部检测到的所述驱动处理时的温度对应的值;

所述补偿演算处理部基于由所述第二特性数据校正部的校正后的特性数据校正所述输入影像信号,由此生成应提供至所述多个像素电路的影像信号;

所述检测温度越高,所述测量控制部提高所述特性测量处理的实施频率。

2.根据权利要求1所述显示装置,其特征在于,

所述测量控制部预先保存表示温度与所述特性测量处理的实施频率的关系的第一关系式,基于所述检测温度,从所述第一关系式决定所述特性测量处理的实施频率。

3.根据权利要求1所述显示装置,其特征在于,进一步包括:

累积驱动时间计算部,其计算所述多个像素电路的累积驱动时间;

所述累积驱动时间越短,所述测量控制部提高所述特性测量处理的实施频率。

4.根据权利要求3所述显示装置,其特征在于,

所述测量控制部预先保存表示所述累积驱动时间与所述特性测量处理的实施频率的关系的第二关系式,并且基于所述累积驱动时间,从所述第二关系式决定所述特性测量处理的实施频率。

5.根据权利要求1所述显示装置,其特征在于,

所述温度检测部设有多个。

6.根据权利要求1所述显示装置,其特征在于,

所述温度检测部设置于包含所述多个像素电路的显示面板的内部。

7.根据权利要求1所述显示装置,其特征在于,

所述温度检测部设置于包含所述多个像素电路的显示面板的外部。

8.根据权利要求1所述显示装置,其特征在于,

所述光电学元件为有机发光二极管。

9.一种显示装置,包括光电学元件以及多个像素电路,所述光电学元件根据电流来控制亮度,所述多个像素电路包含驱动晶体管以作为电路元件,所述驱动晶体管用于控制应提供至所述光电学元件的电流,其特征在于,所述显示装置包括:

像素电路驱动部,其进行测量所述电路元件的特性的特性测量处理、及驱动所述多个像素电路的驱动处理;

特性数据存储部;

温度检测部,其检测温度;

第一特性数据校正部,其将基于在所述特性测量处理中的测量结果所得到的特性数据的值,校正为与基于由所述温度检测部检测到的所述特性测量处理时的温度的标准温度对应的值并将校正后的特性数据存储于所述特性数据存储部;

第二特性数据校正部,其将保存于所述特性数据存储部的特性数据的值,校正为与由所述温度检测部检测到的所述驱动处理时的值对应的值;

补偿演算处理部,其基于由所述第二特性数据校正部的校正后的特性数据校正输入影像信号,由此生成应提供至所述多个像素电路的影像信号。

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