[发明专利]用于可扩展基于云的传感器校准的系统和方法

说明书

可扩展的传感器校准系统和方法被配置成基于从安全云存储器接收的校准参数来校准和/或再校准传感器。用于多个传感器的多个校准参数集可以被从所述安全云存储器接收并且使用校准系统总线接口被连续地传送至所述多个传感器中的每一者。所述传感器使用校准参数生成的校准输出数据被接收并被用于产生新的、优化的校准参数集。

技术领域

本申请要求于2015年11月19日递交的标题为“SYSTEM AND METHOD FOR SCALABLECLOUD-BASED SENSOR CALIBRATION”的美国非临时专利申请No.14/946121的优先权，其全部内容通过引用合并于此。

本公开涉及配置传感器，并且更具体地涉及利用从计算网络获得的一个或多个校准参数设置的传感器的校准和/或再校准。

背景技术

传感器设备和/或更具体地说“智能”传感器系统通常将传感元件、模拟接口电路、模数转换器(ADC)及总线接口、一体式壳体组合在一起，并且可以包括附加功能，诸如自测试、自识别、自验证或自适应。单壳体传感器系统也可以被配置成执行信号处理和多传感能力。这些传感器的典型配置可以包括模拟前端(AFE)、模数转换器(ADC)以及数字信号处理(DSP)电路和控制。

AFE模块通常包括前端信号调节电路、可编程增益放大器(PGA)和模拟滤波器。后处理DSP电路可以包括不同类型的数字滤波器。由于设备(例如传感器)的硅深亚微米制造工艺限制以及不同行业标准的电路设计规范的精度要求，所以在这些传感器设备或智能传感器系统模块中实现的模拟和数字电路通常包括专用校准电路和用于校准目的的通用系统接口。

传统的电路级传感器校准通常可能需要诸如非易失性EEPROM的专用存储器组件来存储预定义的校准系数和/或其他校准参数。这些校准参数还可以包括AFE可编程增益系数，以及校准配置和校准输出数据。一些模拟滤波器也可以通过系统校准接口使用预定义的系数设置来进行校准。类似地，DSP电路可以包括不同的数字滤波器，诸如有限脉冲响应(FIR)或无限脉冲响应(IIR)电路，其也可以使用系统校准接口来实现。使用这种配置，从而可以将校准系数设置加载到专用存储器中。

特定用途传感器的校准可能是昂贵且低效的，因为其通常可能需要针对特定用途的每个传感器进行单独校准。通用传感器校准平台对于适应各种类型的校准参数可能是有利的，特别是在制造过程中生产大量传感器设备的情况下。然而，校准平台可能涉及校准多种不同类型的传感器，其中每种类型的传感器可能需要多个不同的预定义校准系数设置、校准配置和校准输出。这种制造工艺配置可能需要非常大量的专用传感器校准参数设置和存储区域。此外，使用严格的传统制造校准系统，实现将传感器校准参数设置的递增积累和定期更新返回到校准系统将是昂贵的。如此，需要提高编程和更新可扩展环境中的传感器的校准参数的有效性和效率的设备、系统和方法。

发明内容

在说明性实施方式中，公开用于校准一个或多个传感器的计算机系统，包括：处理器；通信接口，其可操作地耦合到所述处理器，所述通信接口被配置成从计算机网络接收校准参数集；校准系统总线接口，所述校准系统总线接口可操作地耦合到所述处理器，所述校准系统总线接口被配置成将所接收的校准参数集传送到所述一个或多个传感器，其中所述校准总线接口进一步被配置成从所述传感器接收响应于所述校准参数集的校准输出数据，并且其中所述通信接口被配置成将所述校准输出数据传送到所述计算机网络以生成新的校准参数集。

在说明性实施方式中，公开用于校准系统中的一个或多个传感器的方法，包括：从计算机网络接收用于所述一个或多个传感器的校准参数集；使用校准系统总线接口将所接收到的校准参数集传送到所述一个或多个传感器；从传感器接收响应于校准参数集的校准输出数据；将所述校准输出数据传送到所述计算机网络；以及接收响应于所述校准输出数据的用于所述一个或多个传感器的新的校准参数集。