[发明专利]III-V族元素抗氧化液、处理液、氧化物去除液及去除方法、半导体基板处理液及制造方法有效

专利信息
申请号: 201680006546.5 申请日: 2016-02-04
公开(公告)号: CN107210215B 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 高桥智美;朴星戊;水谷笃史;稻叶正 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: H01L21/304 分类号: H01L21/304;H01L21/308
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王永红
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: iii 元素 氧化 处理 氧化物 去除 方法 半导体 制造
【权利要求书】:

1.一种III-V族元素的氧化物的去除液,其含有酸与巯基化合物,

所述巯基化合物以下述式(1)、(4)中的任一个表示,所述III-V族元素为选自In、Ga、As及P中的至少1个,

R1~R5分别独立地为氢原子、硫醇基、羧基、烷基、烯基、芳基、芳烷基、氨基、酰基或酰基氨基;R1~R5可相互键结而形成环;

m及n为整数;m+n为1~12的整数;

分子中的R1~R5中,1个以上作为羧基而存在;

A为羧基或羟基;

R6为烷基、烯基、芳基、芳烷基、氨基、酰基或酰基氨基;

HA表示从包含N的单环杂芳环去除m3+n3+p3个氢原子的结构;

n3及m3为0~5的整数;p3为1~4的整数。

2.根据权利要求1所述的去除液,其中,

所述巯基化合物含有羧基及羟基中的至少1个与硫醇基。

3.根据权利要求1所述的去除液,其中,

所述巯基化合物的碳原子数为1~12,且在分子内具有1个以上且4个以下的硫醇基。

4.根据权利要求1所述的去除液,其中,

所述酸为无机酸。

5.根据权利要求4所述的去除液,其中,

所述无机酸为盐酸。

6.根据权利要求1所述的去除液,其中,

抑制或防止III-V族元素的溶出,以去除III-V族元素的氧化物。

7.根据权利要求1所述的去除液,其中,

含有0.05质量%以上且20质量%以下的所述酸。

8.根据权利要求1所述的去除液,其中,

含有0.01质量%以上且10质量%以下的所述巯基化合物。

9.一种处理液,其为含有酸与巯基化合物的III-V族元素的半导体基板的处理液,所述巯基化合物含有羧基及羟基中的至少1个与硫醇基,其中,

所述巯基化合物以下述式(1)、(4)中的任一个表示,所述III-V族元素为选自In、Ga、As及P中的至少1个,

R1~R5分别独立地为氢原子、硫醇基、羧基、烷基、烯基、芳基、芳烷基、氨基、酰基或酰基氨基;R1~R5可相互键结而形成环;

m及n为整数;m+n为1~12的整数;

分子中的R1~R5中,1个以上作为羧基而存在;

A为羧基或羟基;

R6为烷基、烯基、芳基、芳烷基、氨基、酰基或酰基氨基;

HA表示从包含N的单环杂芳环去除m3+n3+p3个氢原子的结构;

n3及m3为0~5的整数;p3为1~4的整数。

10.根据权利要求9所述的处理液,所述巯基化合物的碳原子数为1~12,且在分子内具有1个以上且4个以下的硫醇基。

11.根据权利要求9所述的处理液,其中,

所述酸为无机酸。

12.根据权利要求11所述的处理液,其中,

所述无机酸为盐酸。

13.根据权利要求9所述的处理液,其含有0.05质量%以上且20质量%以下的所述酸。

14.根据权利要求9所述的处理液,其含有0.01质量%以上且10质量%以下的所述巯基化合物。

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