[实用新型]非接触式安全检查系统有效

专利信息
申请号: 201621340865.3 申请日: 2016-12-08
公开(公告)号: CN206399836U 公开(公告)日: 2017-08-11
发明(设计)人: 王安凯;王红球;易裕民;刘海辉;张建红 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 颜镝
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 接触 安全检查 系统
【权利要求书】:

1.一种非接触式安全检查系统,包括:

激光源(1),用于将探测光线(11)穿过容器(3)或包装物并投射到所述容器(3)或包装物包含的被检物体(4)上;

光学收集器件,用于收集所述探测光线(11)在所述被检物体(4)上的激发光;

光谱分析器(8),用于对所述光学收集器件收集到的激发光的光谱特征进行分析,以确定所述被检物体(4)的特性;和

遮挡装置,用于阻止所述探测光线(11)在所述容器(3)或包装物上的激发光至少部分地进入所述光学收集器件的感应区域。

2.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统,其中,所述遮挡装置设置在所述容器(3)或包装物外侧。

3.根据权利要求2所述的非接触式安全检查系统,其中,所述遮挡装置贴近设置在所述容器(3)或包装物的外侧表面。

4.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统,其中,所述遮挡装置包括遮光挡板(5),所述遮光挡板(5)向远离所述容器(3)或包装物的方向的延伸面与所述光学收集器件的感应区域不相交。

5.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统,其中,所述激光源(1)设置在所述光学收集器件所定义的预设收集光路(9)的外侧。

6.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统,其中,所述探测光线(11)在所述容器(3)或包装物上的照射区域(B)位于所述光学收集器件所定义的预设收集光路(9)内。

7.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统,其中,所述激光源(1)包括一个或多个,能够向所述容器(3)或包装物投射多条探测光线(11),在所述容器(3)或包装物外侧靠近每条探测光线(11)的位置均设有所述遮挡装置。

8.根据权利要求7所述的非接触式安全检查系统,其中,所述遮挡装置包括截面呈扇环形的第一遮光挡板(51),每条探测光线(11)对应的第一遮光挡板(51)形成非闭合的环形。

9.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统,其中,所述激光源(1)能够向所述容器(3)或包装物投射封闭几何形状的探测光线(22),在所述容器(3)或包装物外侧靠近所述封闭几何形状的探测光线(22)的位置设有封闭几何形状的所述遮挡装置。

10.根据权利要求9所述的非接触式安全检查系统,其中,所述遮挡装置包括闭合环形的第二遮光挡板(52)。

11.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统,其中,所述探测光线(11)在所述容器(3)或包装物上的激发光的光谱特性比所述探测光线(11)在所述被检物体(4)上的激发光的光谱特性更强。

12.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统,其中,所述光谱分析器(8)包括拉曼光谱分析器,用于对所述光学收集器件收集到的散射光的拉曼光谱特征进行分析。

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