[实用新型]一种往返性动作测试机构

说明书

技术领域

本实用新型涉及LED分光机领域,尤其是一种往返性动作测试机构。

背景技术

LED分光机通过测试机构夹持LED芯片的铜箔，对LED芯片进行测试，从而实现LED芯片的分色和分光，例如，中国专利文献CN102360062A就公开了一种SMD LED贴片分光机用芯片探测装置，它的具体结构为：包括有支撑板，所述支撑板的一侧设置有驱动源，所述支撑板的另一侧设置有弹性探针组件和同步驱动机构，所述同步驱动机构的一端与所述驱动源连接，所述同步驱动机构的另一端与所述弹性探针组件配合连接，所述驱动源驱动所述同步驱动机构，所述探针组件在所述同步驱动机构的作用下可同时接触或者远离待测试芯片；但是，上述的这种SMD LED贴片分光机用芯片探测装置是通过水平的两个夹具分别从两个侧面夹持LED芯片的两侧的铜箔，从而实现LED芯片的测试的，这种探测装置只能适用于体积较大、铜箔在两侧面的LED芯片的测试，对于体积较小的LED芯片，测试精度不够，且运行不稳定，测试的故障率较高，尤其是现在市面上的微小材料的LED芯片，有五个发光面，且铜箔只存在于一个面上，现有的探测装置根本无法对其进行测试，于是人们便尝试研发出适合于微小材料的LED芯片测试的探测装置，但是由于技术的缺陷，适合这种微小材料的LED芯片的探测装置尚不成熟，市面上尚没有较完善的适合微小材料的探测装置。

实用新型内容

为了克服上述问题，本实用新型向社会提供一种适合于微小材料的LED芯片测试的、测试精度较高、运行更加稳定的往返性动作测试机构。

本实用新型的技术方案是：提供一种往返性动作测试机构，包括底座，所述底座上设有互相垂直的X轴驱动单元和Y轴驱动单元、通过连接板设置在X轴驱动单元和Y轴驱动单元上方的Z轴驱动单元，以及由Z轴驱动单元驱动的探针检测组件，所述Z轴驱动单元垂直于X轴驱动单元和Y轴驱动单元，所述探针检测组件包括探针固定件、数根探针，以及供探针固定件移动的滑轨，数根所述探针的下端面在同一水平面上且与待测试样品上的铜箔点相吻合；所述Z轴驱动单元工作时，带动探针沿滑轨移动从而接触或者远离待测试样品。

作为对本实用新型的改进，还包括设在所述底座上的千分微调尺，所述千分微调尺用于调节探针的位置。

作为对本实用新型的改进，所述Z轴驱动单元包括伺服电机和与伺服电机的输出轴连接的凸轮结构，所述凸轮结构在伺服电机的驱动下带动探针沿滑轨移动。

作为对本实用新型的改进，还包括探针导向座，所述探针导向座设置在探针的中下部。

作为对本实用新型的改进，还包括分别用于感应Z轴驱动单元的行程的左极限、右极限的第一传感器和第二光电传感器。

作为对本实用新型的改进，所述X轴驱动单元是由第一电机驱动的。

作为对本实用新型的改进，所述Y轴驱动单元是由第二电机驱动的。

本实用新型由于所述底座上设有互相垂直的X轴驱动单元和Y轴驱动单元、通过连接板设置在X轴驱动单元和Y轴驱动单元上方的Z轴驱动单元，以及由Z轴驱动单元驱动的探针检测组件，所述Z轴驱动单元垂直于X轴驱动单元和Y轴驱动单元，所述探针检测组件包括探针固定件、数根探针，以及供探针固定件移动的滑轨，数根所述探针的下端面在同一水平面上且与待测试样品上的铜箔点相吻合；所述Z轴驱动单元工作时，带动探针沿滑轨移动从而接触或者远离待测试样品。因此，本实用新型具有适合于微小材料的LED芯片测试的、测试精度较高、运行更加稳定的的优点。

附图说明

图1是本实用新型的一种实施例的立体结构示意图。

图2是图1的另外一个视角的立体结构示意图。

具体实施方式

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语中“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。