[实用新型]一种RF接口的测试装置及RF接口的测试机

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，特别是涉及一种RF接口的测试装置及RF接口的测试机。

背景技术

目前，RF接口作为一种重要的接口，已广泛应用于电脑、机顶盒和DVD等电子设备中，由于RF接口的质量直接影响到电子设备的传输功能，因此，对于RF接口的测试是至关重要的。

现有测试机都是通过人工将RF连接头手动插入到测试板上的RF接口进行测试的，由于RF接口分为P制式(IEC)和N制式(螺旋头)，在对不同类型RF接口进行测试时，同一RF连接头无法同时兼容P制式和N制式两种RF接口，因此需要手动更换RF连接头，其操作比较繁琐，导致效率较低；同时，在更换RF连接头的过程中，由于存在RF连接头安装不到位、接触不良等现象，在插拔时很容易损坏测试板上的RF接口，严重时甚至会损坏测试板，从而影响产品的质量。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种RF接口的测试装置，以解决现有RF接头无法同时兼容P制式和N制式两种RF接口的测试的技术问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种RF接口的测试装置，包括RF接口测试组件，所述RF接口测试组件包括螺旋头测试探针，IEC头测试结构和RF信号输入结构，所述螺旋头测试探针与所述IEC头测试结构连接，所述RF信号输入结构上设有RF信号输入接口，所述螺旋头测试探针与所述RF信号输入接口电连接，所述IEC头测试结构上设有IEC头测试触点，所述IEC头测试触点与所述RF信号输入接口电连接。

作为优选方案，所述螺旋头测试探针的工作长度与P制式RF接口的母座的中心孔的长度相匹配。

作为优选方案，所述RF接口测试组件还包括导向柱，所述导向柱的直径与所述P制式RF接口的母座的中心孔的直径相匹配，所述螺旋头测试探针通过所述导向柱与所述IEC头测试结构连接，所述导向柱上设有贯穿其上下表面的第一通孔，所述螺旋头测试探针的一端伸入所述第一通孔内并与所述第一通孔连接,所述RF信号输入结构上设有贯穿其上下表面的第二通孔，所述导向柱部分容置于所述第二通孔内，且所述螺旋头测试探针可容置于所述第一通孔和所述第二通孔所形成的同轴孔内。

作为优选方案，所述IEC头测试结构上设有贯穿其上下表面的第三通孔，所述IEC头测试结构通过所述第三通孔与所述导向柱过盈配合。

作为优选方案，所述RF接口的测试装置还包括固定件，所述IEC头测试结构与所述固定件连接，所述RF信号输入结构与所述固定件连接。

作为优选方案，所述RF接口的测试装置还包括弹簧，所述固定件上设有第一安装孔，所述弹簧容置于所述第一安装孔内，所述RF信号输入结构上设有安装柱，所述安装柱穿过所述弹簧并与所述第一安装孔连接。

作为优选方案，所述固定件上还设有第二安装孔，所述IEC头测试结构通过所述第二安装孔与所述固定件过盈配合。

作为优选方案，所述固定件上还设有凸台，所述第一安装孔贯穿所述凸台的上下表面。

作为优选方案，所述第一安装孔与所述第二安装孔之间设有第四通孔，所述第四通孔的直径小于所述第一安装孔的直径，且所述第四通孔的直径小于所述第二安装孔的直径。

为了解决相同的技术问题，本实用新型还提供一种RF接口的测试机，包括气缸和上述的RF接口的测试装置，所述RF接口的测试装置固定连接在所述气缸上。

作为优选方案，所述RF接口的测试机还包括浮动弹簧组件，所述RF接口的测试装置通过所述浮动弹簧组件固定连接在所述气缸上。

本实用新型提供一种RF接口的测试装置及RF接口的测试机，在测试N制式RF接口时，将螺旋头测试探针插入N制式RF接口的中心孔，以完成信号对接，从而进行N制式RF接口的测试；当需要测试P制式RF接口时，将螺旋头测试探针拆除或完全伸入P制式RF接口的母座的中心孔内，使得IEC头测试结构上的IEC头测试触点与P制式RF接口的母座上的测试触点充分接触，以完成信号对接，从而进行P制式RF接口的测试。因此，该RF接口的测试装置能够同时兼容P制式和N制式两种RF接口的测试，不需要手动更换RF连接头，提高了测试效率；同时，也不会导致RF连接头安装不到位、接触不良，所以在插拔时不会损坏测试板上的RF接口，更加不会损坏测试板，从而保证了产品的质量。

附图说明

图1是本实用新型实施例中的RF接口的测试装置的结构示意图；

图2是本实用新型实施例中的RF接口的测试装置的爆炸图；

图3是图2中的A-A向剖视图。