[发明专利]集成电路器件电源上电过程中的电流测试系统及方法

权利要求书

1.一种集成电路器件电源上电过程中的电流测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1，预先定义待测集成电路器件所有电源管脚的初始电压，并设置所述待测集成电路器件各电源管脚在上电过程中的钳位电流；

S2，设计所述待测集成电路器件的电源上电过程，所述电源上电过程包括起始电压、稳定电压以及所述起始电压和稳定电压之间的电压变化曲线；

S3，创建测量动作以及所述测量动作对应的执行向量，所述测量动作包括测量点及其施加电压的设置、测量次数以及测量结果输出；

S4，定义所述执行向量的运行周期，且所述运行周期的频率为所述执行向量的频率；

S5，按照步骤S2设计的电源上电过程对所述待测集成电路器件上电，在所述电源上电过程中，根据步骤S1中的初始电压和钳位电流、步骤S3中的执行向量以及步骤S4中的运行周期，对每个测量点进行电流测量，并输出相应的测量结果，以获得所述待测集成电路器件电源上电过程中的瞬时电流和最大上电电流。

2.如权利要求1所述的电流测试方法，其特征在于，所述步骤S1中的初始电压为0V或者满足所述待测集成电路器件规定的初始上电电压。

3.如权利要求1所述的电流测试方法，其特征在于，所述步骤S2中，通过ATE测试机的电源组件，设计所述待测集成电路器件的电源上电过程。

4.如权利要求1所述的电流测试方法，其特征在于，所述步骤S3中，通过ATE测试机的矢量生成和发生组件，设计所述执行向量以插入所述测量动作。

5.如权利要求1所述的电流测试方法，其特征在于，所述步骤S3中，按照在所述起始电压和稳定电压之间的一条倾斜上升直线，来设置相应的测量点及其施加电压。

6.如权利要求1所述的电流测试方法，其特征在于，所述步骤S3中，所述测量动作还包括设置每个测量点的电流输出范围以及根据所述测量结果和所述电流输出范围进行的测量判断。

7.如权利要求1所述的电流测试方法，其特征在于，所述步骤S4中，所述运行周期使得所述执行向量中的每个测量动作后的等待时间符合ATE测试机的电源组件的硬件要求。

8.如权利要求1所述的电流测试方法，其特征在于，所述步骤S4中，提高或者减少所述频率，获得不同上电时间内的电流分布情况。

9.如权利要求1所述的电流测试方法，其特征在于，所述步骤S5中，通过ATE测试机的数据输出工具获取并输出相应的测量结果。

10.如权利要求1所述的电流测试方法，其特征在于，所述待测集成电路器件具有至少一个电源，当对所述待测集成电路器件的多个电源进行测量时，按照步骤S1至S4分别对各个电源进行相应的设置，同时通过一个步骤S5完成所有的电源上电过程的电流测量。