[发明专利]一种集成式框架类芯片产品切断测试装置

说明书

本发明公开了一种集成式框架类芯片产品切断测试装置，包括机架、下托板、立柱、上托板、伺服增压缸、切断模具、进料轨道、旋转轨道、过渡轨道、推料机构、抓料机构、测试机构、斜台、分料机构、送管机构、料管、测试仪、控制器，将芯片框架放置于进料轨道上，控制器控制抓料机构将芯片框架送入切断模具内，伺服增压缸推动切断模具将芯片产品切下后复位，推料机构将芯片产品推入旋转轨道，旋转轨道将其中一颗芯片产品旋转180°，使得两芯片产品引脚同向，随后，芯片产品进入测试轨道，测试机构与测试仪配合对芯片产品进行检测。该装置结构简单，自动将切断后的框架类芯片产品进行旋转、测试，提高生产效率，提高产品品质的稳定性。

技术领域

本发明涉及一种机械装置，尤其涉及一种集成式框架类芯片产品切断测试装置。

背景技术

现有集成电路的芯片产品，如桥式整流器，在生产时采用双排镜向交错排列形成芯片框架，其主要目的是为了节约铜材消耗及提高生产效率，由于芯片框架在模切后分离的芯片产品是相对放置，因此，芯片产品引脚朝向相反，需要操作人员手动将其收集调整位置使得芯片产品引脚朝向一致，随后将芯片产品放置于测试机构内进行测试，由于切断与测试分离，导致工时延长，效率降低。鉴于以上缺陷，实有必要设计一种集成式框架类芯片产品切断测试装置。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于：提供一种集成式框架类芯片产品切断测试装置，来解决框架类芯片切断与测试分离导致品质受控难，效率低的问题。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：一种集成式框架类芯片产品切断测试装置，包括机架、下托板、立柱、上托板、伺服增压缸、切断模具、进料轨道、旋转轨道、过渡轨道、推料机构、抓料机构、测试机构、斜台、分料机构、送管机构、料管、测试仪、控制器，所述的下托板位于机架内侧上端，所述的下托板与机架螺纹相连，所述的立柱位于下托板上端，所述的立柱与下托板螺纹相连，所述的上托板位于立柱上端，所述的上托板与立柱螺纹相连，所述的伺服增压缸位于上托板上端，所述的伺服增压缸与上托板螺纹相连，所述的切断模具位于下托板上端且位于伺服增压缸下端，所述的切断模具与下托板螺纹相连且与伺服增压缸螺纹相连，所述的进料轨道位于下托板上端且位于切断模具右侧，所述的进料轨道与下托板螺纹相连且与切断模具活动相连，所述的旋转轨道位于下托板上端且位于切断模具左侧，所述的旋转轨道与下托板螺纹相连且与切断模具活动相连，所述的过渡轨道位于下托板上端且位于旋转轨道左侧，所述的过渡轨道与下托板螺纹相连且与旋转轨道活动相连，所述的推料机构固连于下托板，所述的抓料机构固连于下托板，所述的测试机构位于过渡轨道左侧，所述的测试机构与过渡轨道螺纹相连，所述的斜台位于机架左侧，所述的斜台与机架螺纹相连，所述的分料机构位于斜台上端且位于测试机构下端，所述的分料机构与斜台螺纹相连且与测试机构活动相连，所述的送管机构位于斜台上端且位于分料机构下端，所述的送管机构与斜台螺纹相连且与分料机构活动相连，所述的料管放置于送管机构内，所述的测试仪位于机架内侧下端，所述的测试仪与机架活动相连，所述的机架还设有控制器，所述的控制器与机架螺纹相连；

所述的旋转轨道还包括支撑板、轨道板、旋转气缸、转动板、盖板、钢球，所述的支撑板位于下托板上端且位于切断模具左侧，所述的支撑板与下托板螺纹相连且与切断模具活动相连，所述的轨道板位于支撑板上端，所述的轨道板与支撑板螺纹相连，所述的旋转气缸位于轨道板下端，所述的旋转气缸与轨道板螺纹相连，所述的转动板位于旋转气缸上端且位于轨道板上端，所述的转动板与旋转气缸螺纹相连且与轨道板活动相连，所述的盖板位于轨道板上端，所述的盖板与轨道板螺纹相连，所述的钢球嵌入转动板，所述的钢球与转动板弹性相连，旋转气缸带动转动板转动180°，即可将转动板上的芯片产品转动180°，从而使得该芯片产品引脚与限位槽内的芯片产品引脚方向一致，钢球用于定位，保证旋转精度；