[发明专利]一种放射源搜寻装置和搜寻方法

权利要求书

1.一种放射源搜寻装置，其特征在于：包括立柱，所述立柱两侧靠近顶部处分别设有一横杆，两横杆能在立柱上水平上下移动，一横杆下设有一大晶体探测器，另一横杆下设有一小晶体探测器组；

所述大晶体探测器的探测方向竖直向下；所述小晶体探测器组包括数个小晶体探测器，所述小晶体探测器包括一NaI晶体探测器和准直器，所述准直器位于NaI晶体探测器的探测端，二者均为圆柱形，同轴且固定成一整体，所述整体外壁和顶部包覆有晶体屏蔽铅层；

其中一小晶体探测器为中心探测器，位于中心且探测方向为竖直向下，其余小晶体探测器为外围探测器，与中心探测器位于一个平面且均匀绕其一周，所述外围探测器下端均向远离中心探测器的一侧偏转，与竖直面形成θ夹角。

2.根据权利要求1所述的一种放射源搜寻装置，其特征在于：所述小晶体探测器一共为七个。

3.根据权利要求1所述的一种放射源搜寻装置，其特征在于：所述立柱为能定位的伸缩调节杆，所述外围探测器与中心探测器间设有调整θ夹角角度的角度调节器。

4.根据权利要求1所述的一种放射源搜寻装置的搜寻方法，其特征在于：包括以下步骤：

（1）大晶体探测器初步确定探测范围：

（11）设待测区域为M，在该区域建立坐标系，沿横坐标在在M区域内随机选取一条直线L1作为测量路线；将直线L1分为数个测量点；

（12）用大晶体探测器沿测量点依次测量，读取计数率,并根据计数率作强度散点图，拟合出一个带有峰的曲线，若无明显波峰或没有波峰，则重新选择直线L至出现明显波峰；

（13）在波峰两侧各选取一个点，过该点各作一条沿Y轴的直线，两直线间的区域形成带状区域A；

（14）在带状区域A内，沿纵坐标设置数个测量点，并重复步骤（12），

（15）在步骤（14）的波峰两侧各选取一个点，过该点各作一条沿X轴的直线，两直线间的区域形成带状区域B；

（2）小晶体探测器组确定最终位置：

（21）调整外围探测器与中心探测器的夹角至θ°，使每个外围探测器均分别与中心探测器形成一相交的探测区域；预设一阈值，当小晶体探测器计数超过该阈值则判断为异常计数；

（22）在区域A、B重叠范围内，随机选取测量点进行测量，并获取测量点处各小晶体探测器的计数率，直至一个外围探测器和中心探测器上出现异常计数，或仅一个外围探测器上出现异常计数；

若异常计数同时出现在一个外围探测器和中心探测器上，以两探测器的准直器中点竖直投影到水平面的点做一条直线L2，中心探测器的探测区域与该直线L2交点为点B、点D，外围探测器的探测区域与该直线L2焦点为点A、点C，且点B、点C位于相交的探测区域上，计算BC间的距离，并沿所述直线L2移动中心探测器至点C；

若异常计数只出现在一个外围探测器上，计算AB间的距离,并沿所述直线移动中心探测器至点B；

（23）重复步骤（22）至放射源出现在视线范围内，搜寻结束。

5.根据权利要求4所述的一种放射源搜寻装置的搜寻方法，其特征在于：所述步骤（12）中，明显波峰的判定标准为：

测量待测区域M的本底值N_b，再根据强度散点图上的点，计算其标准差σ，若每个点的计数值均小于N_b+2σ，则无明显波峰，反之若出现至少一个点大于或等于N_b+2σ，则有明显波峰。