[发明专利]一种IOL测试验证方法和装置在审

专利信息
申请号: 201611209490.1 申请日: 2016-12-23
公开(公告)号: CN106814306A 公开(公告)日: 2017-06-09
发明(设计)人: 张健;蒯金 申请(专利权)人: 深圳市紫光同创电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281 代理人: 江婷
地址: 518057 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 iol 测试 验证 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种IOL测试验证方法,包括:

将FPGA中的各个待验证的IOL单元串接,并建立与各级所述IOL单元对应的比对链;

将激励输入串接的所述IOL单元中的第一级IOL单元和所述比对链,所述激励沿着串接的所述IOL单元进行传递,其中,上一级的所述IOL单元的输出作为下一级的所述IOL单元的输入;

将各级所述IOL单元的输出与对应的比对链的输出进行比对,根据比对结果判断所述IOL单元功能和/或连接关系是否正常。

2.如权利要求1所述的IOL测试验证方法,其特征在于,所述将各级IOL单元的输出与对应的比对链的输出进行比对包括:

当所述IOL单元配置为旁路、锁存器、寄存器中的至少一种时,将各级所述IOL单元的输出与相应的所述比较链的输出进行异或比对,并通过或门输出所述比对结果。

3.如权利要求1所述的IOL测试验证方法,其特征在于,所述将各级IOL单元的输出与对应的比对链的输出进行比对包括:

当所述IOL单元配置为GDDR模式时,将各级所述IOL的输出与相应的所述比较链的输出进行异或比对,并通过或门输出所述比对结果。

4.如权利要求1所述的IOL测试验证方法,其特征在于,所述将各级IOL单元的输出与对应的比对链的输出进行比对包括:

当所述IOL单元配置为MDDR模式时,将各级所述IOL的输出与相应的所述比较链的输出进行异或比对,并通过或门输出所述比对结果。

5.如权利要求1-4任一项所述的IOL测试验证方法,其特征在于,在根据比对结果判断所述IOL单元功能和/或连接关系是否正常之前,还包括:

将最后一级所述IOL单元的输出结果与预设结果进行比较,并根据比较结果以及所述比对结果判断所述IOL单元功能和/或连接关系是否正常。

6.一种IOL测试验证装置,其特征在于,包括:

创建模块,用于将FPGA中的各个待验证的IOL单元串接,并建立与各级所述IOL单元对应的比对链;

输入模块,用于将激励输入串接的所述IOL单元中的第一级单元和所述比对链,所述激励沿着串接的所述IOL单元进行传递,其中,上一级的所述IOL单元的输出作为下一级的所述IOL单元的输入;

比对模块,用于将各级所述IOL单元的输出与对应的比对链的输出进行比对,根据比对结果判断所述IOL单元功能和/或连接关系是否正常。

7.如权利要求6所述的IOL测试验证装置,其特征在于,所述比对模块还用于:

当所述IOL单元配置为旁路、锁存器、寄存器中的至少一种时,将各级所述IOL的输出与相应的所述比较链的输出进行异或比对,并通过或门输出所述比对结果。

8.如权利要求6或7所述的IOL测试验证装置,其特征在于,所述比对模块还用于:

当所述IOL单元配置为GDDR模式时,将各级所述IOL的输出与相应的所述比较链的输出进行异或比对,并通过或门输出所述比对结果。

9.如权利要求8所述的IOL测试验证装置,其特征在于,所述比对模块还用于:

当所述IOL单元配置为MDDR模式时,将各级所述IOL的输出与相应的所述比较链的输出进行异或比对,并通过或门输出所述比对结果。

10.如权利要求6-9任一项所述的IOL测试验证装置,其特征在于,还包括比较模块,用于将最后一级所述IOL单元的输出结果与预设结果进行比较,并根据比较结果以及所述比对结果判断所述IOL单元功能和/或连接关系是否正常。

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