[发明专利]一种IOL测试验证方法和装置在审
| 申请号: | 201611209490.1 | 申请日: | 2016-12-23 |
| 公开(公告)号: | CN106814306A | 公开(公告)日: | 2017-06-09 |
| 发明(设计)人: | 张健;蒯金 | 申请(专利权)人: | 深圳市紫光同创电子有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281 | 代理人: | 江婷 |
| 地址: | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 iol 测试 验证 方法 装置 | ||
1.一种IOL测试验证方法,包括:
将FPGA中的各个待验证的IOL单元串接,并建立与各级所述IOL单元对应的比对链;
将激励输入串接的所述IOL单元中的第一级IOL单元和所述比对链,所述激励沿着串接的所述IOL单元进行传递,其中,上一级的所述IOL单元的输出作为下一级的所述IOL单元的输入;
将各级所述IOL单元的输出与对应的比对链的输出进行比对,根据比对结果判断所述IOL单元功能和/或连接关系是否正常。
2.如权利要求1所述的IOL测试验证方法,其特征在于,所述将各级IOL单元的输出与对应的比对链的输出进行比对包括:
当所述IOL单元配置为旁路、锁存器、寄存器中的至少一种时,将各级所述IOL单元的输出与相应的所述比较链的输出进行异或比对,并通过或门输出所述比对结果。
3.如权利要求1所述的IOL测试验证方法,其特征在于,所述将各级IOL单元的输出与对应的比对链的输出进行比对包括:
当所述IOL单元配置为GDDR模式时,将各级所述IOL的输出与相应的所述比较链的输出进行异或比对,并通过或门输出所述比对结果。
4.如权利要求1所述的IOL测试验证方法,其特征在于,所述将各级IOL单元的输出与对应的比对链的输出进行比对包括:
当所述IOL单元配置为MDDR模式时,将各级所述IOL的输出与相应的所述比较链的输出进行异或比对,并通过或门输出所述比对结果。
5.如权利要求1-4任一项所述的IOL测试验证方法,其特征在于,在根据比对结果判断所述IOL单元功能和/或连接关系是否正常之前,还包括:
将最后一级所述IOL单元的输出结果与预设结果进行比较,并根据比较结果以及所述比对结果判断所述IOL单元功能和/或连接关系是否正常。
6.一种IOL测试验证装置,其特征在于,包括:
创建模块,用于将FPGA中的各个待验证的IOL单元串接,并建立与各级所述IOL单元对应的比对链;
输入模块,用于将激励输入串接的所述IOL单元中的第一级单元和所述比对链,所述激励沿着串接的所述IOL单元进行传递,其中,上一级的所述IOL单元的输出作为下一级的所述IOL单元的输入;
比对模块,用于将各级所述IOL单元的输出与对应的比对链的输出进行比对,根据比对结果判断所述IOL单元功能和/或连接关系是否正常。
7.如权利要求6所述的IOL测试验证装置,其特征在于,所述比对模块还用于:
当所述IOL单元配置为旁路、锁存器、寄存器中的至少一种时,将各级所述IOL的输出与相应的所述比较链的输出进行异或比对,并通过或门输出所述比对结果。
8.如权利要求6或7所述的IOL测试验证装置,其特征在于,所述比对模块还用于:
当所述IOL单元配置为GDDR模式时,将各级所述IOL的输出与相应的所述比较链的输出进行异或比对,并通过或门输出所述比对结果。
9.如权利要求8所述的IOL测试验证装置,其特征在于,所述比对模块还用于:
当所述IOL单元配置为MDDR模式时,将各级所述IOL的输出与相应的所述比较链的输出进行异或比对,并通过或门输出所述比对结果。
10.如权利要求6-9任一项所述的IOL测试验证装置,其特征在于,还包括比较模块,用于将最后一级所述IOL单元的输出结果与预设结果进行比较,并根据比较结果以及所述比对结果判断所述IOL单元功能和/或连接关系是否正常。
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