[发明专利]基于简单互斥操作的蓝噪声采样方法

权利要求书

1.一种图形处理中基于简单互斥操作的蓝噪声采样方法，其特征在于，应用于蓝噪声的采样区域中，包括以下步骤：

步骤A，在所述采样区域中进行随机采样，得到采样点集；

步骤B，在所述采样点集中选取任一采样点；

步骤C，根据预设的空间约束参数，对所述采样点做优化处理；

步骤D，若优化处理后的采样点完全收敛，得到基于所述采样点收敛的采样点集；否则转到步骤C，对所述优化处理后的采样点做迭代优化处理；

步骤E，重复上述步骤B～D，直至所述采样点集基于每一个采样点的优化处理后完全收敛，得到最终的蓝噪声采样点集；

其中，所述优化处理为：分别计算出基于采样点的冲突半径、覆盖半径和Voronoi图细胞容积三个空间约束参数；利用所述三个空间约束参数与各自分别对应的预设的空间约束参数进行比较，根据比较结果来筛选出所述采样点集内的不合格采样点，并对不合格采样点做调整处理；

所述采样点集为所述采样区域为D，在所述优化处理中，采样点的冲突半径为采样点x_i和采样点x_j之间的距离；

其中，x_i为当前选取的采样点，x_j为x_i的邻居采样点；

基于采样点的覆盖半径的获取方式为：

获取当前选取的采样点x_i的邻接三角形面片t_j∈DT(X)；

在t_j不为钝角三角形的情形下，获取t_j的外接圆半径r作为基于采样点的覆盖半径；

采样点的Voronoi图细胞容积为当前选取的采样点x_i与其所有邻居采样点之间的容积；

在利用所述三个空间约束参数与各自分别对应的预设的空间约束参数进行比较时，具体的比较方式为：

比较基于采样点的冲突半径与预设的冲突半径的大小关系，若基于采样点的冲突半径小于预设的冲突半径，则确定采样点x_j为不合格采样点；否则确定采样点x_j为合格采样点；

比较基于采样点的覆盖半径与预设的覆盖半径的大小关系，若基于采样点的覆盖半径大于预设的覆盖半径，则获取t_j其余的两个端点x_k，确定端点x_k为不合格采样点；

计算基于采样点的Voronoi图细胞容积与平均容积的差值并且比较所述差值与目标最大偏差的大小，若所述差值低于目标最大偏差，则确定当前选取的采样点x_i的所有邻居采样点为合格采样点，否则认为当前选取的采样点x_i的所有邻居采样点为不合格采样点。

2.根据权利要求1所述的基于简单互斥操作的蓝噪声采样方法，其特征在于，在所述优化处理中，在利用所述三个空间约束参数与各自分别对应的预设的空间约束参数进行比较时，所述三个空间约束参数的比较处理不存在先后关系。

3.根据权利要求1所述的基于简单互斥操作的蓝噪声采样方法，其特征在于，在所述优化处理中，

当根据所述预设的空间约束参数筛选出所述采样点集内的不合格采样点后，移动该不合格采样点，直至该不合格采样点成为合格采样点。

4.根据权利要求1所述的基于简单互斥操作的蓝噪声采样方法，其特征在于，所述步骤B之前还包括：

步骤F，建立采样点集的Delaunay三角化。

5.根据权利要求4所述的基于简单互斥操作的蓝噪声采样方法，其特征在于，所述步骤E之后还包括：

步骤G，更新所述蓝噪声采样点集的Delaunay三角化。