[发明专利]一种高均匀度磁体的Vrms均匀度的单积分计算方法有效
| 申请号: | 201611055396.5 | 申请日: | 2016-11-25 |
| 公开(公告)号: | CN106777900B | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
| 发明(设计)人: | 张喜虎;成渝;汤洪明;郭如勇;黄廷庆 | 申请(专利权)人: | 上海辰光医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G06F17/10 | 分类号: | G06F17/10 |
| 代理公司: | 上海专益专利代理事务所(特殊普通合伙) 31381 | 代理人: | 方燕娜;王雯婷 |
| 地址: | 201707 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 均匀 磁体 vrms 积分 计算方法 | ||
本发明公开了一种高均匀度磁体的Vrms均匀度的单积分计算方法,其表达式为单积分形式,可以快速求解出任意轴对称成像区域的Vrms值,并可用于高均匀度磁体的主磁场设计。
技术领域
本发明涉及一种高均匀度磁体的Vrms均匀度的单积分计算方法,属于磁共振成像系统部件的设计技术领域。
背景技术
高均匀度磁体是磁共振成像(Magnetic Resonance Imaging)的核心部件之一,用来提供一定磁场强度、高均匀度的背景磁场。经过30多年的发展,MRI系统作为临床诊断工具已经成为医疗行业不可或缺的医疗仪器设备,其应用已经大规模普及。
高均匀度磁体的主磁场一般由多组同轴螺线管线圈产生,其成像区域为轴对称区域。磁场均匀度是高均匀度磁体的重要指标之一,过去衡量磁体的磁场均匀度通常采用峰峰值的方法,即成像区域的磁场最大值用最小值之差与中心磁场之比,由于整个成像区域的磁场最大值和最小值很难用解析方法求解,通常在成像区域内取一系列采样点,然后提取采样点的磁场最大值和最小值来计算,这样做有两个缺点,一是需要选取大量的采样点,才能接近成像区域的理论均匀度,而是无法评估整个成像区域内的均匀度,因此采用体积均方根值(Vrms)来评估高均匀度磁体的均匀度已经成为主流,近年来越来越多的磁体将Vrms作为磁体的指标之一,并随着MRI系统的发展进步,成像区域由传统的球体拓展为椭球、圆柱体的轴对称区域,因此找到一种可以快速求解Vrms的方法,并将其加入磁体的主磁场设计中去,是高均匀度磁体的设计趋势之一。
现有文献提出了Vrms的定义,并通过推导得到了成像区域为球体的Vrms解析表达式;但是随着MRI系统的发展,成像区域已经由传统的球体变为椭球、圆柱体,文献中的球体表达式已经无法满足使用要求,其适用性不广。
针对不同成像区域的Vrms求解,专利CN104899441A提出了一种基于成像区域离散化的数值计算方法。其方法类似于有限单元发,将成像区域离散为N个四面体网格,求得每个四面体的磁场权值和体积,然后根据Vrms定义公式求解Vrms;但是由于将成像区域离散化,其精度有所不足,需要大量的网格数才可以提高计算精度,这样造成求解规模极大,效率很低,无法应用于高均匀度磁体的主磁场设计中去。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术的缺陷,提供一种高均匀度磁体的Vrms均匀度的单积分计算方法,克服现有技术适用性不广或计算效率太低的问题,可以快速求解出任意轴对称成像区域的Vrms值,并可用于高均匀度磁体的主磁场设计。
实现上述目的的技术方案是:一种高均匀度磁体的Vrms均匀度的单积分计算方法,包括以下步骤:
步骤S1,高均匀度磁体的成像区域内的磁场Vrms均匀度定义如下:
式(1)中,Bz为在成像区域内的轴向磁场分量,Bz0为磁体的中心磁场,V为成像区域体积;
步骤S2,在成像区域内的轴向磁场分量Bz表示为球谐系数的展开式:
式(2)中,Pn,m(cosθ)为第n阶m次的连带勒让德函数,anm、bnm为谐波系数;
步骤S3,取A为中间变量,定义如下:
步骤S4,式(3)在球坐标系下的表达式为:
式(4)中,r、θ和为球坐标系坐标;
步骤S5,将式(2)带入式(4),得到表达式:
式(5)进一步简化得到表达式:
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