[发明专利]具有同步控制功能的点源透过率杂光测试系统及方法

权利要求书

1.一种具有同步控制功能的点源透过率杂光测试系统，包括沿光路依次设置的脉冲光源系统、平行光管和待测光机系统，还包括具有外同步控制功能的探测系统、信号采集处理系统和转台，所述待测光机系统或平行光管位于转台上；所述探测系统位于待测光机系统的焦面上，所述信号采集处理系统采集探测系统的信号，其特征在于：还包括同步控制系统，所述探测系统和光源系统均与同步控制系统连接，所述同步控制系统用于按照延迟的预设时间控制探测系统快门的开启并按照快门开启持续时间控制探测系统快门的开启时长；

所述同步控制系统具体工作工程如下：

脉冲光源系统按照预设发射时间发射的激光脉冲经过平行光管后照亮待测光机系统，同步控制系统以发射时间为起始时间，在延迟的预设时间后，向探测系统发出接收指令，这时探测系统快门打开，并按照预设的快门开启持续时间接受信号光；当环境光污染到达待测光机系统焦面时，同步控制系统控制探测器快门关闭，将环境光污染屏蔽在外；

所述的延迟的预设时间由光源经平行光管、待测光机系统的最短传播路径来设定；

所述的快门开启持续时间由激光器、探测器参数和待测光机系统的杂光路径来确定。

2.根据权利要求1所述的一种具有同步控制功能的点源透过率杂光测试系统，其特征在于：还包括光衰减装置，所述光衰减装置位于平行光管焦点处。

3.根据权利要求1或2所述的一种具有同步控制功能的点源透过率杂光测试系统，其特征在于：所述脉冲光源为皮秒激光。

4.一种具有同步控制功能的点源透过率杂光测试方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤一：打开光源，待光源分布均匀性、时间稳定性满足要求后，标定平行光管出射平行光束的辐照度E₀；

步骤二：定位待测光机系统，使得由平行光管出射的平行光充满待测光机系统的入口，且使得待测光机系统的入口中心过转台的旋转中心O；

步骤三：转动转台到指定离轴角度θ位置；

步骤四：脉冲光源按照预设发射时间发射的激光脉冲经过平行光管后照亮待测光机系统，同步控制系统以发射时间为起始时间，在延迟的预设时间后，向探测系统发出接收指令，这时探测系统快门打开，并按照预设的快门开启持续时间接受信号光；当环境光污染到达待测光机系统焦面时，同步控制系统控制探测器快门关闭，将环境光污染屏蔽在外；

所述的延迟的预设时间由光源经平行光管、待测光机系统的最短传播路径来设定；

所述的快门开启持续时间由激光器、探测器参数和待测光机系统的杂光路径来确定；

步骤五：信号采集处理系统计算探测器接收到信号光的辐照度E(θ)，则离轴角度θ的PST(θ)＝E(θ)/(α·E₀)；

步骤六：转动转台角度，重复步骤五，测量不同离轴角度下探测器的响应，计算不同离轴角度下的PST；

步骤七：绘制待测光机系统的PST曲线；

步骤八：该曲线用于评价待测光机系统的杂散光抑制能力。

5.根据权利要求4所述的一种具有同步控制功能的点源透过率杂光测试方法，其特征在于：

步骤一之后还包括调节光衰减装置，令弱光出射的步骤；

步骤四还包括根据待测光机系统的点源透过率PST(θ)的理论分析值，调整光衰减装置的衰减系数α的步骤。