[发明专利]过热检测电路、过热保护电路以及半导体装置有效
| 申请号： | 201610959066.2 | 申请日： | 2016-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN106840433B | 公开（公告）日： | 2020-03-06 |
| 发明（设计）人： | 中下贵雄 | 申请（专利权）人： | 艾普凌科有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/01 | 分类号： | G01K7/01 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;邓毅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 过热 检测 电路 保护 以及 半导体 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种过热检测电路，其特征在于，其包括：
第1电阻，其一端的电位与第1电压相等；
第2电阻，其具有与所述第1电阻相同的温度特性，能够调整电阻值；以及
热敏元件，其与所述第2电阻的一端连接，
基于所述第1电压的第1电流被提供给所述第1电阻，
与所述第1电流成比例的电流被提供给所述第2电阻，由此，在所述第2电阻的另一端生成第2电压，
比较所述第1电压与所述第2电压，输出其比较结果作为过热检测信号。
2.一种过热保护电路，其特征在于，其具有权利要求1所述的过热检测电路。
3.一种半导体装置，其特征在于，其具有权利要求2所述的过热保护电路。
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