[发明专利]一种信号相位差的检测方法及系统

权利要求书

1.一种信号相位差的检测方法，其特征在于，包括：

步骤S100获取待检测信号及频率相同且具有基准相位的基准信号，并根据所述待检测信号的信号频率结合所需的检测精度信息获取总采样次数；

步骤S200将所述基准信号与所述待检测信号组合成为与所述信号频率相同的待检相差信号；

步骤S300根据所述信号频率获取所述待检相差信号的脉宽个数信息；

步骤S310根据所述所需的检测精度信息获取检测频率，并根据所述检测频率生成检测方波信号；

其中，所述检测频率为高于所述信号频率的检测高频率或低于所述信号频率的检测低频率；

步骤S320根据所述检测方波信号与所述待检相差信号进行比对；

步骤S330根据所述步骤S320比对的结果对所述待检相差信号的脉宽个数进行检测；

步骤340根据所述检测方波信号的检测频率获取所述步骤S330检测并累加的所述待检相差信号的脉宽个数；

步骤S400根据所述所需的检测精度信息和所述脉宽个数信息获取所述待检测信号的相位差信息。

2.根据权利要求1所述的一种信号相位差的检测方法，其特征在于，所述步骤S330包括：

步骤S331当所述检测高频率处于高电平时，检测到所述待检相差信号从下降沿至上升沿时进行一次累加；执行步骤S340。

3.根据权利要求1所述的一种信号相位差的检测方法，其特征在于，所述步骤S330还包括：

步骤S332当所述检测低频率处于高电平时，检测到所述待检相差信号从上升沿至下降沿时进行一次累加；执行步骤S340。

4.根据权利要求1所述的一种信号相位差的检测方法，其特征在于，所述步骤S200还包括：

步骤S210将所述基准信号与所述待检测信号分别变换成同频率的方波信号；

步骤S220将所述基准信号与所述待检测信号分别变换后的同频率的方波信号进行二分频变换；

步骤S230进一步将二分频后的所述基准信号与所述待检测信号的方波信号进行异或运算得到与所述信号频率相同的所述待检相差信号。

5.根据权利要求1所述的一种信号相位差的检测方法，其特征在于，所述总采样次数的模型包括：

σ＝1/f0·10a

σ--所述待检信号精度，f0--所述待检测信号的信号频率，

10a--所述总采样次数。

6.根据权利要求1所述的一种信号相位差的检测方法，其特征在于，所述检测方波信号的检测高频率的模型包括：

f1＝(1+1/10a)f0，

f1--所述检测方波信号的检测高频率。

7.根据权利要求1所述的一种信号相位差的检测方法，其特征在于，所述检测方波信号的检测低频率的模型包括：

f2＝(1-1/10a)f0，

f2--所述检测方波信号的检测低频率。

8.根据权利要求1所述的一种信号相位差的检测方法，其特征在于，所述待检测信号的相位差信息的模型包括：

Δθ＝2π·N(1)/10a，

N(1)--所述待检相差信号的脉宽个数信息，

Δθ--所述待检测信号的相位差。

9.一种同频信号的相位差的检测系统，可执行权利要求1-8任一所述的一种信号相位差的检测方法，其特征在于，包括：

总采样次数获取模块，获取与待检测信号及频率相同且具有基准相位的基准信号，并根据所述待检测信号的信号频率结合所需的检测精度信息获取总采样次数；

待检测信号信息获取模块，与检测精度获取模块电连接，将所述基准信号与所述待检测信号组合成为与所述信号频率相同的待检相差信号；

待检测脉宽统计模块，与所述待检测信号信息获取模块电连接，根据所述信号频率获取所述待检相差信号的脉宽个数信息；

相位差信息获取模块，与所述待检测脉宽统计模块电连接，根据所需的检测精度信息和所述脉宽个数信息获取所述待检测信号的相位差信息。