[发明专利]AOI的测试参数的调整方法和装置

说明书

本发明涉及一种AOI测试参数的调整方法和装置，该方法包括以下步骤：在显示界面显示被检测设备的AOI测试结果，标记出所检测到的问题器件；检测是否获取到对其中一个问题器件的参数调整指令；若是，则根据参数调整指令在显示界面上同时显示与问题器件对应的参数设置表；获取在参数设置表内输入的测试参数，并更新问题器件的测试参数。该方法通过触发参数调整指令，在显示测试结果的同时显示对应的参数设置表，用户通过参数设置表即可实现对测试参数的调整，无需退出测试程序进行界面的切换操作，能够提高AOI测试参数的调整效率，进而提高AOI测试的效率。

技术领域

本发明涉及电子元器件生产技术领域，特别是涉及一种AOI测试参数的调整方法和装置。

背景技术

AOI(Automatic Optic Inspection，自动光学检测)，是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。其通过利用普通光线和激光扫描被检测设备得到被检测设备的图像，将被检测设备的图像与标准图像进行比较，检测被检测设备是否有加工缺陷，例如，是否偏孔，导线缺少等。

然而在生产过程中，各种元器件种类繁多，比如，同型号的电容，其包装文字位置会有些许差异。因此，在检测时，需要针对不同的元器件调整其测试参数。传统的AOI测试参数的调整，需要暂停当前的测试进程，退出测试程序，从测试界面切换到用于编辑测试参数的调节界面。这种方式影响了测试进程，导致测试效率低。

发明内容

基于此，有必要提供一种效率高的AOI测试参数的调整方法和装置。

一种AOI测试参数的调整方法，包括：

在显示界面显示被检测设备的AOI测试结果，标记出所检测到的问题器件；

检测是否获取到对其中一个问题器件的参数调整指令；

若是，则根据所述参数调整指令在所述显示界面上同时显示与所述问题器件对应的参数设置表；

获取在所述参数设置表内输入的测试参数，并更新所述问题器件的测试参数。

在一个实施例中，在所述更新所述问题器件的测试参数的步骤之后，还包括：

根据更新的测试参数进行AOI测试，并输出AOI测试结果至显示界面。

在一个实施例中，在所述检测是否获取到对其中一个问题器件的参数调整指令的步骤之前，还包括：

预先设置被检测设备的每一器件的参数设置表，建立被检测设备、被检测设备的每一器件以及参数设置表的对应关系。

在一个实施例中，在所述检测是否获取到对其中一个问题器件的参数调整指令的步骤之前，还包括：

预先设置参数调整指令并保存。

在一个实施例中，所述参数设置表悬浮显示在所述显示界面上。

一种AOI测试参数的调整装置，包括：

标记模块，用于在显示界面显示被检测设备的AOI测试结果，标记出所检测到的问题器件；

检测模块，用于检测是否获取到对其中一个所述问题器件的参数调整指令；

参数处理模块，用于在检测模块的检测结果为是时，根据所述参数调整指令在显示界面上同时显示与所述问题器件对应的参数设置表；

更新模块，用于获取在所述参数设置表内输入的测试参数，并更新所述问题器件的测试参数。

在一个实施例中，还包括：

测试模块，用于根据更新的测试参数进行AOI测试，并输出AOI测试结果至显示界面。

在一个实施例中，还包括：