[发明专利]一种基于成像系统的圆柱截面尺寸测量装置和方法有效

专利信息
申请号: 201610858501.2 申请日: 2016-09-27
公开(公告)号: CN107869957B 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 杨水山;何永辉;彭铁根;石桂芬;梁爽;宗德祥 申请(专利权)人: 宝山钢铁股份有限公司
主分类号: G01B11/08 分类号: G01B11/08
代理公司: 北京金信知识产权代理有限公司 11225 代理人: 刘锋;冯丽
地址: 201900 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 成像 系统 圆柱 截面 尺寸 测量 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种基于成像系统的圆柱截面尺寸测量方法,其特征在于,应用于基于成像系统的圆柱截面尺寸测量装置,所述基于成像系统的圆柱截面尺寸测量装置包括:两个激光发射器和光幕,所述两个激光发射器的连线形成的直线与所述光幕平行,被测圆柱位于所述两个激光发射器与所述光幕之间,所述两个激光发射器朝被测物发射线形激光束,并在所述光幕上形成阴影区域;图像传感器,所述图像传感器用于捕捉所述光幕上的所述阴影区域;另外,还具备上位机,所述上位机根据所述图像传感器所捕捉的图像,计算被测的圆柱截面的尺寸;所述圆柱截面尺寸测量方法具备以下步骤:

步骤一,记录初始参数,所述初始参数包括所述两个激光发射器的间距,所述两个激光发射器与所述光幕之间的距离,以及所述两个激光发射器在所述光幕上的投影位置、所述两个激光发射器与被测圆柱截面圆心的连线的延长线在与所述光幕的交点位置;

步骤二,两个所述激光发射器分别发光,所述图像传感器分别捕捉两次所述光幕上的阴影区域,并传输给所述上位机;

步骤三,所述上位机根据两次成像的图像,计算被测圆柱的截面尺寸。

2.如权利要求1所述的基于成像系统的圆柱截面尺寸测量方法,其特征在于,所述步骤三具体包括以下步骤:

步骤3.1,根据两幅成像图像,分别获取所述两个激光发射器在所述光幕上投影的边界位置;

步骤3.2,根据步骤3.1中的边界位置,分别计算光源与对应两个边界夹角的角度;

步骤3.3,根据步骤3.2中的角度,分别计算光源过圆心直线方程,并根据两条直线方程计算交点位置;

步骤3.4,根据步骤3.2中的角度、以及步骤3.3中的交点位置,计算被测圆柱截面的半径。

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