[发明专利]一种芯片抗外力测试装置及其测试方法有效
| 申请号： | 201610614003.3 | 申请日： | 2016-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN106289970B | 公开（公告）日： | 2019-11-29 |
| 发明（设计）人： | 王兰龙;王爱秋 | 申请（专利权）人： | 大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08 |
| 代理公司： | 11262 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李红爽;栗若木<国际申请>=<国际公布> |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 外力 测试 装置 及其 方法 | ||
【说明书】：
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