[发明专利]一种坐标测量系统在审

专利信息
申请号: 201610514373.X 申请日: 2016-06-30
公开(公告)号: CN107560535A 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 邹科颖 申请(专利权)人: 邹科颖
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京品源专利代理有限公司11332 代理人: 徐鹏飞
地址: 214000 江苏省无锡市惠*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 坐标 测量 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及空间坐标测量技术领域,尤其涉及一种坐标测量系统。

背景技术

在几何量空间坐标检测中应用最广泛的是正交式三坐标测量机,但是正交式三坐标测量机在许多方面不能适应大型工程对象的高精度检测的要求。首先要测量多大的工件,必须有比它更大的三坐标测量机。这种三坐标测量机不仅造价高昂,而且技术难度很大。目前世界上最大的测量机的各向行程为二十多米,价格达数百万美元。更重要的是,这种三坐标测量机无法在现场使用,而必须将被测对象搬到三坐标测量机测量。这在许多情况下是无法实现的。

发明内容

本发明的目的在于通过一种坐标测量系统,来解决以上背景技术部分提到的问题。

为达此目的,本发明采用以下技术方案:

一种坐标测量系统,其包括激光源电路、分光装置、激光反射装置、光电位置传感器电路、信号采集卡、坐标计算处理电路、控制器、电机驱动电路、纵向步进电机、横向步进电机;所述激光源电路设置在分光装置正前方;所述分光装置设置在激光反射装置正前方;所述光电位置传感器电路连接信号采集卡;所述信号采集卡、坐标计算处理电路、控制器、电机驱动电路依次连接;所述电机驱动电路连接纵向步进电机、横向步进电机。

特别地,所述坐标测量系统还包括跟踪反光镜;所述跟踪反光镜设置在纵向步进电机、横向步进电机正前方。

特别地,所述控制器选用微积分控制器。

特别地,所述分光装置为偏振分光装置。

本发明提出的坐标测量系统响应速度快,线性度好,能够准确迅速的实现空间坐标测量,结构简单,易于制作。

附图说明

图1为本发明实施例提供的坐标测量系统结构图。

具体实施方式

为了便于理解本发明,下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施例。但是,本发明可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容理解的更加透彻全面。需要说明的是,除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参照图1所示,图1为本发明实施例提供的坐标测量系统结构图。

本实施例中坐标测量系统包括激光源电路、分光装置、激光反射装置、光电位置传感器电路、信号采集卡、坐标计算处理电路、控制器、电机驱动电路、纵向步进电机、横向步进电机;所述激光源电路设置在分光装置正前方;所述分光装置设置在激光反射装置正前方;所述光电位置传感器电路连接信号采集卡;所述信号采集卡、坐标计算处理电路、控制器、电机驱动电路依次连接;所述电机驱动电路连接纵向步进电机、横向步进电机。

所述坐标测量系统还包括跟踪反光镜;所述跟踪反光镜设置在纵向步进电机、横向步进电机正前方。所述控制器选用微积分控制器。所述分光装置为偏振分光装置。

本发明的技术方案响应速度快,线性度好,能够准确迅速的实现空间坐标测量,结构简单,易于制作。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory,ROM)或随机存储记忆体(Random Access Memory,RAM)等。

以上结合具体实施例描述了本发明的技术原理。这些描述只是为了解释本发明的原理,而不能以任何方式解释为对本发明保护范围的限制。基于此处的解释,本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本发明的其它具体实施方式,这些方式都将落入本发明的保护范围之内。

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