[发明专利]一种微细物料的冷镶制样方法有效
| 申请号: | 201610465836.8 | 申请日: | 2016-06-23 |
| 公开(公告)号: | CN107543745B | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
| 发明(设计)人: | 孙峙;何明明;李永利;曹宏斌;尤海侠;于宏东 | 申请(专利权)人: | 中国科学院过程工程研究所 |
| 主分类号: | G01N1/32 | 分类号: | G01N1/32;G01N1/38 |
| 代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 巩克栋;侯桂丽 |
| 地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 微细 物料 冷镶制样 方法 | ||
本发明提供了一种微细物料的冷镶制样方法。所述制样方法包括以下步骤:把复合树脂和复合固化剂按照一定比例混匀后,抽真空至混合物中无气泡,备用;按一定比例称取样品和分散剂,充分搅拌混匀后放入模具;再加入复合树脂与复合固化剂的混合物,搅匀;超声10分钟以上,超声后缓慢注入复合树脂与复合固化剂的混合物至对应刻度,常温静置12小时以上,直到树脂完全凝固;将固化完全的样品块从模具中取出,磨抛至100倍显微镜下无划痕。本发明的制样方法解决了微细物料样品镶样过程中的团聚严重、样品脱落、气孔多、样品发脆易碎的问题,为微细物料样品的冷镶制样提供了一条途径。
技术领域
本发明属于材料分析制样领域,涉及一种适用于矿物分析的细粒度样品的制样(冷镶和磨抛)方法,具体涉及一种微细物料的冷镶制样方法。
背景技术
矿物分析系统是一套用于材料、地质和冶金等领域的分析仪器,可以快速获取样品的工艺矿物学参数(如元素组成及分布,物相组成,粒度分布,解离情况等),它由扫描电镜和能谱波谱仪及矿物分析软件组成。对样品的要求是:镶嵌磨抛的表面平整,无气孔,颗粒分散均匀,不团聚及无边界脱落等。
通常(矿物及合金)金相制样方法包括以下步骤:
(1)对于体积大的样品进行破碎、切割至合适的“小样品”;
(2)采用热镶或者普通环氧树脂与乙二胺固化剂冷镶,放置固化;
(3)固化后的样品从模具中拿出,采用普通砂纸逐步从粗到细粒级进行研磨,采用煅烧的氧化铬水溶液做抛光剂进行抛光。
对于粗粒度或者金属含量较高的样品,传统的“金相制样”方法,普通的环氧树脂和固化剂冷镶嵌或者热镶,传统磨抛方法可以满足要求,例如赵梅等(理化检验-物理分册,赵梅,王二平,王国红,2008年第44卷,242页)公开了一种铷铁硼厚带金相试样的冷镶制作方法,先取一块平整的玻璃,将用透明胶带封好的PVC管置于玻璃上,将欲镶嵌的长薄试样插入PVC管中,为防止牙托粉和玻璃粘连,在玻璃上铺上纸张,将牙托粉加适量的牙托水搅拌成稀胶质状并具有一定的流动性。一只手用镊子夹持或直接手持试样并保证试样与玻璃垂直,另一只手将搅拌好的牙托粉注入PVC管中,静置固化20~30min后,镶样结束。
但是,对于烟尘、粉煤灰、炉灰、土壤和尾泥等粒度在30微米以下的样品,采用传统的“金相制样”方法制样常存在团聚严重,样品脱落,气孔多,树脂发脆易碎等问题,在分析中对获取相关参数影响较大,难以达到分析要求。
发明内容
针对现有“金相制样”方法无法处理粒度在30微米以下的微细物料样品镶样的问题,本发明的目的在于提出一种微细物料冷镶制样方法,解决了微细物料样品镶样过程中的团聚严重、样品脱落、气孔多、样品发脆易碎的问题,为微细物料样品的冷镶制样提供了一条途径。
为达上述目的,本发明采用以下技术方案:
一种微细物料的冷镶制样方法,所述制样方法包括以下步骤:
(1)将样品与分散剂按质量比1:(0~2)混合,放入模具,然后加入复合树脂与复合固化剂的混合物,搅匀;
(2)对步骤(1)搅匀后的混合物进行超声,然后静置至树脂完全凝固,再对得到的样品块进行磨抛,得到冷镶样。
本发明的步骤(1)中,样品与分散剂的质量比为1:(0~2),例如可为1:0、1:0.5、1:1、1:1.3、1:1.5或1:2等,其中,“样品与分散剂的质量比为1:0”是指:不包含分散剂。
优选地,所述分散剂的粒度分布为D95<0.030mm,例如D95为0.028mm、0.025mm、0.020mm、0.016mm、0.014mm、0.010mm或0.008mm等。
优选地,所述分散剂为石墨,石墨的含碳量优选为>99.99%。
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