[发明专利]液晶面板检测系统及方法

说明书

本发明公开了一种液晶面板检测系统，包括时序控制芯片，所述时序控制芯片包括用于接收锁存信号的处理单元、与所述处理单元相连的侦测控制单元及与所述侦测控制单元相连的点对点传输单元，所述侦测控制单元实时侦测所述点对点传输单元的状态，并根据侦测结果发出控制信号至所述处理单元，所述处理单元根据接收到的控制信号使得所述时序控制芯片进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据，所述侦测控制单元输出的控制信号的优先级大于所述锁存信号的优先级。本发明还公开了一种液晶面板检测方法。本发明能够加快产品设计验证速度，加快产品上市时间，增加产品竞争力，提高批量生产异常分析速度，节约工时、产能，且降低成本。

技术领域

本发明涉及显示驱动技术领域，尤其是涉及一种基于点对点传输结构的液晶面板检测系统及方法。

背景技术

由于液晶面板朝着高解析度、高刷新率、高比特数发展，时序控制芯片(TimingControl,TCON IC)与驱动芯片(Driver IC)之间传输的数据大幅增长，传统的TCON IC与Driver IC之间采用mini-LVDS(mini-Low Voltage Differential Signal，微型低压差分信号)进行数据传输已经无法满足应用。

在现有技术中，往往采用更高速率的数据信号来解决传统时钟信号与数据信号分离引起的时钟相位差而导致的信号抓取错误的问题，此时，多采用内嵌时钟信号来避免相位差的问题；更高速率的数据信号多为点对点(point to point)传输，point to point信号时钟内嵌使得其需要在传递正常显示信号之前先做时钟信号的传输，以实现Driver IC接收端的内部解码数据信号的时钟信号与TCON IC发送端的内部编码时钟信号保持一致。

如图1所示，图1为现有技术中point to point信号时序图。TCON IC与Driver IC之间的point to point信号在正常显示信号之前先进行正常时钟信号的传输，当DriverIC正常锁存时钟信号后，Driver IC的Lock锁存信号为高电平，当Driver IC未能正常锁存时钟信号时，Driver IC的Lock锁存信号为低电平；若TCON IC接收到Lock锁存信号为低电平，则持续时钟训练(Clock Training)。

如图2所示，现有的液晶面板拓扑结构(panel topology)常采用一颗TCON IC搭配多颗Driver IC的架构进行连接；请同时参阅图3，TCON IC在第一阶段PhaseⅠ进行clockTraining，第二阶段PhaseⅡ进行控制信号传送，第三阶段PhaseⅢ开始传递正常显示的RGB数据；在PhaseⅠ若Driver IC接收到clock Training并能正常锁存clock时钟信号，则Driver IC的Lock pin(锁存引脚)处于高电平状态，由于上拉电阻的关系，TCON IC的Lockpin接收到高电平；若Driver IC不能接收到clock Training或即使正常接收到clockTraining但并不能正常锁存clock时钟信号，则Driver IC将Lock拉低，TCON IC Lock pin接收到低电平，则TCON IC持续进行clock Training，无法进入下一个阶段。

液晶面板在设计验证阶段或批量生产过程中，若其中一颗Driver IC接收异常或Driver IC本身不良，则由于TCON IC持续clock Training整个液晶面板显示异常；液晶面板整体显示异常则无法快速确认TCON IC异常或Driver IC异常，即使确认Driver IC异常亦无法定位具体异常的Driver IC，因此，增加了设计调试的复杂程度，并且增加了批量生产异常分析所需的时间。

发明内容

为克服现有技术的不足，提供一种能够避免面板整体显示异常、加快设计验证速度且减少批量生产分析时间的液晶面板检测系统及方法。