[发明专利]一种脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析方法

权利要求书

1.一种脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：

1)对样品的整体版图进行激光脉冲的遍历式扫描，获取饱和截面σ_S和饱和截面所对应的激光脉冲能量E_S；

选取初始激光脉冲能量E₀，使激光微束聚焦在样品的版图表面，对样品的整体版图进行激光脉冲的遍历式扫描，统计单粒子效应错误数N₀和激光脉冲数F₀，并计算出单粒子效应截面σ₀；继续增大激光脉冲能量直至样品的单粒子效应截面不再增大，此时激光脉冲能量为E_S，单粒子效应截面为σ_S；

2)对步骤1)样品的各功能模块进行激光脉冲的遍历式扫描，提取各功能模块的单粒子效应敏感参数，选取各功能模块的典型入射位置；

选取激光脉冲能量为E_S，针对步骤1)样品的各功能模块，分别进行激光脉冲的遍历式扫描，通过定时存取示波器波形来获取每个功能模块的单粒子效应波形，分别分析每个功能模块的波形数据得到每个功能模块的单粒子效应失效模式，提取单粒子效应敏感参数，在每个功能模块所有的激光脉冲入射位置中，均选取单粒子效应敏感参数变化明显的一个位置作为典型入射位置；

3)对步骤2)各功能模块的典型入射位置，让激光脉冲以不同时刻入射，获取各功能模块的单粒子效应时间敏感性信息；

选取激光脉冲能量为E_S，针对各功能模块的典型入射位置，让激光脉冲以一定入射周期入射，通过定时存取示波器波形来获取激光脉冲在不同时刻入射所产生的单粒子效应波形，通过波形的对比分析来获取各功能模块的单粒子效应时间敏感性信息；

4)归纳总结各功能模块的单粒子效应时间敏感性信息，获取脉宽调制器的单粒子效应时间敏感特性。

2.根据权利要求1所述的脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析方法，其特征在于：

所述步骤1)中激光脉冲的遍历式扫描是利用控制软件依次设置扫描区域、扫描步长s、载物台移动速度v来实现，s/v为激光脉冲入射周期；单粒子效应截面的计算采用如下公式：

σ＝N/F

其中：σ是单粒子效应截面；N是单粒子效应错误数，F为激光脉冲数。

3.根据权利要求1所述的脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析方法，其特征在于：

所述步骤2)中各功能模块划分的实现：

根据脉宽调制器的电路原理图对芯片版图进行解剖分析，获取各功能模块在版图中的相应位置，所述原理图包含各功能模块及相互之间的电学连接关系。

4.根据权利要求1所述的脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析方法，其特征在于：

所述步骤2)中定时存取示波器波形的具体实现过程：

首先，设置示波器的触发方式为脉宽调制器输出信号的脉宽触发，脉宽持续时间超过设定范围即触发；

其次，通过示波器控制软件来设置定时存取示波器波形的时间间隔，时间间隔小于激光脉冲入射周期，让计算机以该固定的时间间隔读取示波器的波形并保存。

5.根据权利要求1所述的脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析方法，其特征在于：

所述步骤2)中单粒子效应失效模式分析和敏感参数提取的具体实现过程：

首先，结合各功能模块的单粒子效应波形及各模块在样品整体电路功能中所发挥的作用，分析各功能模块的单粒子效应失效模式；

其次，根据各功能模块的单粒子效应失效模式和单粒子效应波形变化特点，从各被测信号中筛选出各功能模块的单粒子效应敏感参数。