[发明专利]静姿双模料位计及其测量方法

权利要求书

1.一种静姿双模料位计，其特征在于，包括至少两个电极、电极检测部件、运算处理部件、姿态响应部件以及姿态检测部件，各所述电极和所述运算处理部件均与所述电极检测部件电连接，所述姿态响应部件、所述姿态检测部件以及所述运算处理部件依次连接，所述姿态响应部件与各所述电极机械连接或设置于各所述电极的附近，且在使用时各所述电极与所述姿态响应部件设置于测量空间内的待测量位置。

2.根据权利要求1所述的静姿双模料位计，其特征在于，所述姿态响应部件由所述电极充当。

3.根据权利要求1所述的静姿双模料位计，其特征在于，所述姿态检测部件为以下任意一种或其组合：

加速度计、陀螺仪、倾斜传感器、振动传感器、限位开关、触发电路。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的静姿双模料位计，其特征在于，所述姿态响应部件为以下任意一种或其组合：

挡片、挡锤、绳、杆、棒、铰链。

5.根据权利要求1~3中任一项所述的静姿双模料位计，其特征在于，所述电极检测部件为射频导纳检测电路和/或电容检测电路。

6.根据权利要求1~3中任一项所述的静姿双模料位计，其特征在于，所述运算处理部件为一个独立的运算处理部件或多个运算处理部件的组合。

7.一种使用如权利要求1~6中任一项所述的静姿双模料位计测量料位的方法，其特征在于，

所述姿态检测部件实时检测所述姿态响应部件的姿态信息，并将所述姿态信息发送给所述运算处理部件；

所述电极检测部件实时检测各所述电极间的物理量信息，并将所述物理量信息发送给所述运算处理部件；

所述运算处理部件在所述姿态信息和所述物理量信息均达到料位消除条件时，判断在测量范围内无物料。

8.根据权利要求7所述的静姿双模料位计，其特征在于，所述运算处理部件在所述姿态信息和/或所述物理量信息达到料位到达条件时，判断在所述测量范围内有物料。

9.根据权利要求7或8所述的静姿双模料位计，其特征在于，所述物理量信息包括：各所述电极间的电容、各所述电极间的电势和/或各所述电极间的介电特征量。

10.根据权利要求7或8所述的静姿双模料位计，其特征在于，所述姿态信息包括：所述姿态响应部件在三维空间内的方向、位移和/或角度信息。

11.一种使用如权利要求1~6中任一项所述的静姿双模料位计测量料位的方法，其特征在于，

所述姿态检测部件实时检测所述姿态响应部件的姿态信息，并将所述姿态信息发送给所述运算处理部件；

所述电极检测部件实时检测各所述电极间的物理量信息，并将所述物理量信息发送给所述运算处理部件；

所述运算处理部件在所述姿态信息和所述物理量信息均达到料位到达条件时，判断在测量范围内有物料。

12.根据权利要求11所述的静姿双模料位计，其特征在于，所述运算处理部件在所述姿态信息和/或所述物理量信息达到料位消除条件时，判断在所述测量范围内无物料。

13.根据权利要求11或12所述的静姿双模料位计，其特征在于，所述物理量信息包括：各所述电极间的电容、各所述电极间的电势和/或各所述电极间的介电特征量。

14.根据权利要求11或12所述的静姿双模料位计，其特征在于，所述姿态信息包括：所述姿态响应部件在三维空间内的方向、位移和/或角度信息。