[发明专利]显示基板、点灯设备及点灯测试探针对位检测方法在审
| 申请号: | 201610197453.7 | 申请日: | 2016-03-31 |
| 公开(公告)号: | CN105785607A | 公开(公告)日: | 2016-07-20 |
| 发明(设计)人: | 曲毅;张国庆;孙志刚;杨红霞;包珊珊;王军;梁团 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
| 主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;黄灿 |
| 地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 显示 点灯 设备 测试 探针 对位 检测 方法 | ||
1.一种显示基板,包括显示驱动信号线及至少一组测试焊盘,同一组测 试焊盘中多个测试焊盘依次排列;每组测试焊盘包括:与所述显示驱动信号线 连接的多个点灯测试焊盘;其特征在于,每组测试焊盘还包括:与所述显示驱 动信号线不连接的两个探针错位测试焊盘,且两个探针错位测试焊盘之间电连 接。
2.根据权利要求1所述的显示基板,其特征在于,
两个探针错位测试焊盘分别设置在与其位于同一组测试焊盘中的多个点 灯测试焊盘的两端位置。
3.根据权利要求1所述的显示基板,其特征在于,
两个探针错位测试焊盘设置在与其位于同一组测试焊盘中处于中间位置 的两个点灯测试焊盘之间。
4.根据权利要求1所述的显示基板,其特征在于,
同一组测试焊盘中至少部分点灯测试焊盘之间的间距为第一间距;
且所述探针错位测试焊盘和与其位于同一组测试焊盘中距离最近的点灯 测试焊盘之间的间距为所述第一间距。
5.根据权利要求1所述的显示基板,其特征在于,
所述显示基板包括第一组测试焊盘和第二组测试焊盘;
其中,所述第一组测试焊盘中的两个探针错位测试焊盘分别设置在所述第 一组测试焊盘中的多个点灯测试焊盘的两端位置;所述第二组测试焊盘中的两 个探针错位测试焊盘设置在所述第二组测试焊盘中处于中间位置的两个点灯 测试焊盘之间。
6.根据权利要求1所述的显示基板,其特征在于,
同一组测试焊盘中的两个探针错位测试焊盘之间通过金属薄膜连接。
7.一种点灯设备,包括至少一组探针,其特征在于,用于对权利要求1 至6任一项所述的显示基板进行点灯测试,每组探针包括:用于与多个点灯测 试焊盘连接的点灯测试探针;以及,用于与探针错位测试焊盘连接的探针错位 检测探针;其中每组探针的排列方式和与其对应的一组测试焊盘的排列方式相 同。
8.根据权利要求7所述的点灯设备,其特征在于,
所述点灯设备还包括:与所述探针错位检测探针连接的,用于向同一组测 试焊盘中的两个探针错位测试焊盘提供不同电压的电信号的信号提供电路。
9.根据权利要求7所述的点灯设备,其特征在于,
所述点灯设备包括:与探针连接的带有过电流保护功能的信号发生器。
10.一种点灯测试探针对位检测方法,其特征在于,利用如权利要求7至 9任一项所述的点灯设备对如权利要求1至6任一项所述的显示基板进行点灯 测试探针对位检测;所述的方法包括:
将点灯设备上的探针与显示基板上的多个测试焊盘连接;
在点灯测试之前,利用与探针错位测试焊盘连接的探针,向同一组测试焊 盘中电连接的两个探针错位测试焊盘上在预设时间内同时施加不同电压的电 信号,检测同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘之间是否有电 流通过;
若检测到同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘之间有电 流通过时,则判断探针对位正确;
若检测到同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘之间无电 流通过时,则判断探针对位错位。
11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述方法中,
所述向同一组测试焊盘中电连接的两个探针错位测试焊盘上在预设时间 内同时施加不同电压的电信号,具体包括:
向同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘中的一个探针错 位测试焊盘上施加电压的电信号为0伏,向另一个探针错位测试焊盘上施加电 压的电信号为1~2伏。
12.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述方法中,
利用点灯设备内的带有过电流保护功能的信号发生器来检测同一组测试 焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘之间是否有电流通过;
当所述带有过电流保护功能的信号发生器报警时,则判断同一组测试焊盘 中短路连接的两个探针错位测试焊盘之间有电流通过;
当所述带有过电流保护功能的信号发生器未报警时,则判断同一组测试焊 盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘之间无电流通过。
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