[发明专利]一种液晶显示模组闪烁度的校准方法和装置

权利要求书

1.一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特征在于，所述方法包括：

获取液晶显示模组的闪烁度原始值；

计算液晶显示模组的闪烁度最优值；

判断闪烁度最优值是否为最优化；

若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中；

判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。

2.根据权利要求1所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特 征在于，在所述获取液晶显示模组的闪烁度原始值的步骤之前还包括，

初始化液晶显示模组；

确认液晶显示模组工作状态是否正常；

若液晶显示模组工作状态正常，则将闪烁度感应单元与所述液晶模组 进行对焦。

3.根据权利要求1所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特 征在于，在所述计算液晶显示模组的闪烁度最优值的步骤之后还包括，

测试液晶显示模组的闪烁度值。

4.根据权利要求1所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特 征在于，所述闪烁度原始值通过使用硅光电池检测液晶显示模组表面的亮 暗变化获取；并通过运算放大器对闪烁度信号进行放大并通过滤波器对闪 烁度信号进行滤波，生成闪烁度模拟信号，通过模数转换器将闪烁度模拟 信号转换为直流信号。

5.根据权利要求1所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特 征在于，使用ARM芯片作为闪烁度感应单元的主控芯片，所述主控芯片通 过GPIO口与液晶显示模组相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相 连，所述升降平台用于调整闪烁度感应单元与液晶显示模组的距离。

6.一种液晶显示模组闪烁度的校准装置，其特征在于，包括：

主控芯片，与主控芯片相连的升降平台，测试液晶显示模组的闪烁度 感应单元，与闪烁度感应单元相连的运算放大器，与运算放大器相连的滤 波器，与滤波器相连的模数转换器，所述主控芯片还与液晶显示模组相连， 其中，所述主控芯片包括：

获取模块，用于获取液晶显示模组的闪烁度原始值；

处理模块，用于计算液晶显示模组的闪烁度最优值；

第一测试模块，用于判断闪烁度最优值是否为最优化；

写入模块，若计算的闪烁度最优值为最优化，则用于将最优值烧录到 液晶显示模组中；

第二测试模块，用于判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。

7.根据权利要求6所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准装置，其特 征在于，所述主控芯片还包括：

初始化模块，用于初始化液晶显示模组；

液晶测试模块，用于确认液晶显示模组工作状态是否正常；

对焦模块，用于若液晶显示模组工作状态正常，则将闪烁度感应单元 与所述液晶模组进行对焦；

其中，所述对焦模块与所述获取模块相连。

8.根据权利要求6所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准装置，其特 征在于，所述主控芯片还包括：

闪烁检测模块，用于测试液晶显示模组的闪烁度值；

其中，所述闪烁检测模块与处理模块和第一测试模块相连。

9.根据权利要求6所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准装置，其特 征在于，所述闪烁度感应单元为硅光电池，所述运算放大器可对闪烁度信 号进行放大并通过滤波器对闪烁度信号进行滤波，生成闪烁度模拟信号， 通过模数转换器将闪烁度模拟信号转换为直流信号。

10.根据权利要求6所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准装置，其 特征在于，所述主控芯片为ARM芯片，所述主控芯片通过GPIO口与液晶显 示模组相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相连，所述升降平台用 于调整闪烁度感应单元与液晶显示模组的距离。